Abstract:
In at least one embodiment, the optoelectronic semiconductor chip (1) has a semiconductor layer sequence (2) for producing electromagnetic radiation and also a silver mirror (3). The silver mirror (3) is arranged on the semiconductor layer sequence (2). The silver of the silver mirror (3) has oxygen added to it. A weight proportion of the oxygen in the silver mirror (3) is preferably at least 10-5 and with further preference no more than 10%.
Abstract:
Eine Verkapselungsstruktur für ein optoelektronisches Bauelement weist auf: eine Dünnschichtverkapselung zum Schutz des optoelektronischen Bauelements vor chemischen Verunreinigungen, eine auf der Dünnschichtverkapselung ausgebildete Klebeschicht und eine auf der Klebeschicht ausgebildete Deckschicht zum Schutz der Dünnschichtverkapselung und/oder des optoelektronischen Bauelements vor mechanischer Beschädigung.
Abstract:
A method for encapsulating an optoelectronic component by depositing a diffusion barrier for protection against environmental influences by means of an atmospheric pressure plasma on at least one subarea of the surface of the optoelectronic component.
Abstract:
The organic electronic component (22) has a substrate (1) and is provided on the substrate. A cover (5) is arranged over the component, which is connected with the substrate in negatively bonded manner at the edge side with the help of a connecting material (6). The cover is soldered or welded with the substrate. An independent claim is included for a method for producing an organic electronic element.
Abstract:
In mindestens einer Ausführungsform weist der optoelektronische Halbleiterchip (1) eine Halbleiterschichtenfolge (2) zur Erzeugung einer elektromagnetischen Strahlung auf sowie einen Silberspiegel (3). Der Silberspiegel (3) ist an der Halbleiterschichtenfolge (2) angeordnet. Dem Silber des Silberspiegels (3) ist Sauerstoff beigegeben. Ein Gewichtsanteil des Sauerstoffs an dem Silberspiegel (3) beträgt bevorzugt mindestens 10–5 und ferner bevorzugt höchstens 10%.
Abstract:
Es wird ein Verfahren zum Heizen von Halbleitermaterial (2) angegeben, bei dem ein Halbleitermaterial mit zumindest einem dotierten Halbleiterbereich (21, 22) relativ zu einer Induktoranordnung (3) positioniert wird und ein Wechselstrom in die Induktoranordnung (3) eingeprägt wird, so dass in dem dotierten Halbleiterbereich (21, 22) ein elektrischer Strom induziert wird. Weiterhin wird eine Vorrichtung zum Heizen von Halbleitermaterial angegeben.
Abstract:
Production of an electronic component encapsulated in barrier layers involves (a) applying first barrier layer(s) (3) to a functional layer of a substrate (1) by plasma-less atomic layer deposition (PLALD) and (b) applying second barrier layer(s) (4) to the functional layer by plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD). An independent claim is included for an organic opto-electronic component obtained by the process.
Abstract:
Es wird ein Epitaxiesubstrat (11, 12, 13) für ein Nitrid-Verbindungshalbleitermaterial angegeben, das eine Nukleationsschicht (2) direkt auf einem Substrat (1) aufweist, wobei die Nukleationsschicht (2) zumindest eine erste Schicht (21) aus AlON mit einer Säulenstruktur aufweist. Weiterhin werden ein Verfahren zur Herstellung eines Epitaxiesubstrats und ein optoelektronischer Halbleiterchip mit einem Epitaxiesubstrat