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公开(公告)号：CN1148562A
公开(公告)日：1997-04-30
申请号：CN96112137.8
申请日：1996-08-04
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 清川敏之
IPC: B65G49/07
Abstract: 本发明提供一种IC输送装置，该装置在具有向上倾斜表面的定位槽部分内具有使得置于定位槽部分内的半导体器件可以在水平方向移动的间隙。导引部围绕器件吸取装置，以利用吸力提取置于定位槽部分内的半导体器件。所述导引部导引器件吸取装置，以使其可以利用吸力在预定的吸取位置处吸取半导体器件。导引部设置向下伸出的缘部分和平板部分，用于使导引部与定位槽部分之间无间隙地配合，对正两者之间的位置。
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公开(公告)号：CN1141434A
公开(公告)日：1997-01-29
申请号：CN96104014.9
申请日：1996-02-12
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 奥田広
CPC classification number: G01R1/04
Abstract: 一种集成电路(IC)试验装置用处理器的触点结构，可用在自重下落方式的处理器中，即使被测试对象的IC组件和IC插座的形状为薄型时，也可以很容易地对应。其中设置与托架3的尺寸对应的形成下落滑行间隙9的顶板联结部7、顶板A1、顶板B2和导轨5，顶板A1和顶板B2支持托架3，并且具有在进行对应的IC插座与IC组件4的接触动作时顶板A1和顶板B2不会成为障碍的开口部8的结构。
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公开(公告)号：CN1138898A
公开(公告)日：1996-12-25
申请号：CN95191215.1
申请日：1995-10-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/308
Abstract: 一种能在与单独测量器件电学特性所花费的时间大体相同的时间内同时测量器件电学特性并精确检验器件外观的自动操纵装置和一种利用该自动操纵装置的器件测量方法。在该操纵装置内组合一种紧凑而高精度的器件外观自动检验装置，后者包括一个具有多个亮度可控的发光元件的照明装置和一个将拍摄的图像转换成待输出的像素数据的CCD照相机之类的照相机。接受了电学特性测试的器件中被分类为需要检验外观的器件在检验装置中检验其外观。在电学测试和外观检验的数据基础上将器件分类，而后输送到相应的器件存放机构内。由于在一次通过中不但能测试器件的电学特性，还能自动和准确地实现外观检测，外观检查所费的时间可大大减少，导致生产率提高和测试成本的降低。
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公开(公告)号：CN113030598B
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202011230806.1
申请日：2020-11-06
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明提供一种能够实施具有天线的DUT的基于近场的OTA测试的电子部件装置。电子部件测试装置(1)具备能够与DUT(10)电连接的插座(5)、载板(4)以及测试器(3)，插座(5)具备：顶部插座(60)，其配置为与DUT(10)的上表面(11a)对置，能够与DUT(10)电连接；以及底部插座(70)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接，并且能够与顶部插座电连接，底部插座(70)具备：基部(71)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接；以及测试天线(73)，其与测试器(3)电连接，并且配置为与设备天线(12)对置。
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公开(公告)号：CN119270012A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202410661611.4
申请日：2024-05-27
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供能够以高精度来测试高速设备的接口装置。接口装置(200)设置在测试头(130)与DUT(1)之间。插座板(210)具有用于装配DUT(1)的插座(220)和用于安装插座(220)的插座PCB(230)。多个高速信号用的表面电极(232a)形成在插座PCB(230)的第一面(S1)。多个高速信号用的背面电极(234a)在插座PCB(230)的第二面(S2)形成于俯视观察插座PCB(230)时与多个表面电极(232a)相同的位置处。过孔(236)贯通插座PCB(230)，将对应的表面电极(232a)与背面电极(234a)电连接。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118973488A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202280093825.5
申请日：2022-06-17
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 岩崎秀明
IPC: A61B8/13
Abstract: 基于通过向具有测定对象和混合物的被照射体照射脉冲光而得到的光声信号，对测定对象进行测定。光声波测定装置(1)对具有测定对象(2a)和混合物(2b)的被照射体(2)进行测定。光声波测定装置(1)具备：脉冲光输出部(12a、12b)，其输出第一波长及第二波长的脉冲光(P1、P2)；光声波测定部(13)，其按照第一波长及第二波长与时间对应起来测定由脉冲光(P1、P2)在被照射体(2)中产生的光声波(AW)；时域频域变换部(14)，其将光声波测定部(12)的测定结果变换到时域频域；差分取得部(16)，其取得关于第一波长的时域频域变换部(14)的变换结果(TF1)与关于第二波长的时域频域变换部(14)的变换结果(TF2)的差分；以及时域变换部(18)，将由差分取得部(16)取得的差分变换到时域。
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公开(公告)号：CN118837584A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202310445746.2
申请日：2023-04-24
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 提供能够抑制加强框的强度降低和损坏并抑制老化板的挠曲的老化板和老化装置。老化板(20)具备：多个插座(30)；安装有插座(30)的老化板主体(40)；底板(60)；外框(50)；以及加强框(70)，其设置于外框(50)的内部且老化板主体(40)与底板(60)之间，加强框(70)具有：在第一方向上延伸的多个基杆(80)；以及以与基杆(80)交叉的方式配置并在第二方向上延伸的多个横杆(90)，横杆(90)在与基杆(80)交叉的部位与基杆(80)嵌合，与老化板主体(40)的下表面(42)和底板(60)的上表面(61)接触，并能够从基杆(80)拆卸。
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公开(公告)号：CN114035009B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202110690329.5
申请日：2021-06-22
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明提供一种能够实现运转率的提高和占有空间的缩小的电子部件处理装置。对DUT(200)进行处理的电子部件处理装置(10)具备分别安装与测试器(7)连接的测试头(5A～5D)的多个接触单元(60A～60D)，各个接触单元(60A～60D)能够与其他接触单元(60A～60D)独立地调整DUT(200)的温度，并且能够向设置于测试头(5A～5D)的插座(6)按压DUT(200)，电子部件处理装置(10)构成为能够增设或减设接触单元(60A～60D)。
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公开(公告)号：CN117434309A
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202310845028.4
申请日：2023-07-11
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供一种能够将高速器件高精度地进行试验的接口装置、及自动试验装置。接口装置(200)设置在测试头(130)与被试验器件DUT(1)之间。插座板包含插座和插座PCB(214)，该插座装配DUT(1)，该插座PCB(214)在其第一面安装插座且在第二面具备多个背面电极。中介层(218)在其第一面设置多个变形电极(254)且在其第二面设置多个非变形电极(252)，多个变形电极(254)与插座PCB(214)的多个背面电极接触。FPC线缆(222)具有在第一中介层的第二面处与多个非变形电极(252)连接的多个电极焊盘。
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