자동 이득 조절 귀환 증폭기
    161.
    发明公开
    자동 이득 조절 귀환 증폭기 无效
    自动增益控制反馈放大器

    公开(公告)号:KR1020130077432A

    公开(公告)日:2013-07-09

    申请号:KR1020110146139

    申请日:2011-12-29

    CPC classification number: H03G1/0082 H03G1/0088 H03G3/3084

    Abstract: PURPOSE: An automatic gain control feedback amplifier is provided to freely control a gain even when a difference of an input signal is great. CONSTITUTION: An automatic gain control feedback amplifier (200) includes an amplifier circuit (210), a feedback circuit (220), and a bias circuit (230). The amplifier circuit amplifies a voltage inputted from an input terminal and outputs the voltage to an output terminal. The feedback circuit is connected between the input terminal and the output terminal. The feedback circuit includes a feedback resistor part (221) whose total voltage value is determined by one or more control signals and a feedback transistor connected to the feedback resistor part in parallel. The bias circuit provides a predetermined bias voltage to the feedback transistor.

    Abstract translation: 目的:提供一种自动增益控制反馈放大器,即使当输入信号的差异大时也能自由地控制增益。 构成:自动增益控制反馈放大器(200)包括放大器电路(210),反馈电路(220)和偏置电路(230)。 放大器电路放大从输入端子输入的电压,并将该电压输出到输出端子。 反馈电路连接在输入端子和输出端子之间。 反馈电路包括其总电压值由一个或多个控制信号确定的反馈电阻器部分(221)和并联连接到反馈电阻器部分的反馈晶体管。 偏置电路向反馈晶体管提供预定的偏置电压。

    수직구조 캐패시터 및 수직구조 캐패시터의 형성 방법
    162.
    发明公开
    수직구조 캐패시터 및 수직구조 캐패시터의 형성 방법 审中-实审
    垂直电容器及其形成方法

    公开(公告)号:KR1020130059673A

    公开(公告)日:2013-06-07

    申请号:KR1020110125763

    申请日:2011-11-29

    Abstract: PURPOSE: A vertical capacitor and a method for forming the same are provided to be manufactured in a substrate without a separate package. CONSTITUTION: An input electrode(14) and an output electrode(15) are formed in the upper surface(10a) of a substrate(10). A conductive material is formed in a first via hole formed by etching the lower surface(10b) of the substrate. The conductive material is connected to the input electrode and the output electrode. An input via electrode(24) and an output via electrode(25) are formed in the substrate. A dielectric layer(37) is formed between the input via electrode and the via electrode.

    Abstract translation: 目的:提供垂直电容器及其形成方法,以便在基板上制造而不需要单独的封装。 构成:在基板(10)的上表面(10a)中形成有输入电极(14)和输出电极(15)。 在通过蚀刻基板的下表面(10b)形成的第一通孔中形成导电材料。 导电材料连接到输入电极和输出电极。 在基板中形成有输入通孔电极(24)和输出通孔电极(25)。 在输入通孔电极和通孔电极之间形成介电层(37)。

    질화물 전자소자 및 그 제조 방법
    163.
    发明公开
    질화물 전자소자 및 그 제조 방법 有权
    NITRIDE ELECTRONIC DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING IT

    公开(公告)号:KR1020130010823A

    公开(公告)日:2013-01-29

    申请号:KR1020120018591

    申请日:2012-02-23

    Abstract: PURPOSE: A nitride electronic device and a manufacturing method thereof are provided to implement an integrated circuit with various properties on a single substrate by using design technology and unit process with a structure of a different channel layer and a barrier layer. CONSTITUTION: A low temperature buffer layer(102) is formed on a sapphire substrate(101). A first semi-insulating GaN layer(103) is formed on the low temperature buffer layer. A first channel layer(104) for an electron transfer is formed on the first semi-insulating GaN layer. A first barrier layer(105) is formed on the first channel layer. A second semi-insulating GaN layer(107) is formed on the sidewall of the first barrier layer and the first channel layer. A second channel layer(108) and a second barrier layer(109) are formed on the second semi-insulating GaN layer.

    Abstract translation: 目的:提供一种氮化物电子器件及其制造方法,通过使用具有不同沟道层和阻挡层的结构的设计技术和单元工艺,在单个衬底上实现具有各种性能的集成电路。 构成:在蓝宝石衬底(101)上形成低温缓冲层(102)。 在低温缓冲层上形成第一半绝缘GaN层(103)。 用于电子转移的第一沟道层(104)形成在第一半绝缘GaN层上。 第一阻挡层(105)形成在第一沟道层上。 在第一阻挡层和第一沟道层的侧壁上形成第二半绝缘GaN层(107)。 在第二半绝缘GaN层上形成第二沟道层(108)和第二势垒层(109)。

    다층의 금속 배선 제조 방법
    165.
    发明授权
    다층의 금속 배선 제조 방법 有权
    多层金属线的制造方法

    公开(公告)号:KR100942698B1

    公开(公告)日:2010-02-16

    申请号:KR1020070126841

    申请日:2007-12-07

    Abstract: 본 발명은 다층의 금속 배선 제조 방법에 관한 것으로서, 다층의 감광막을 이용한 리소그라피 공정과, 감광막과 절연막의 식각선택비를 이용하여 절연막 위에 다층의 금속 배선을 형성함으로써, 비아 홀(Via-Hole)과 배선 금속 증착을 위한 리소그라피 공정을 별도로 진행하지 않고, 한 번의 리소그라피 공정으로 진행할 수 있으며, 한 번의 노광을 통해 패턴이 형성됨으로써 오 정렬의 가능성을 줄일 수 있으며, 보다 간단하고, 안정적으로 다층의 금속 배선을 제작할 수 있다.
    반도체 기판, 다층의 금속 배선, 다층의 감광막, 오믹금속층, 절연막, 감광막 패턴, 식각 공정, 리프트 오프 공정, 식각마스크.

    티형 게이트 전극을 구비한 반도체 소자 및 그의 제조 방법
    166.
    发明公开
    티형 게이트 전극을 구비한 반도체 소자 및 그의 제조 방법 有权
    具有T型电极的半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020090058730A

    公开(公告)日:2009-06-10

    申请号:KR1020070125466

    申请日:2007-12-05

    Abstract: A semiconductor device with a T-type gate electrode and a manufacturing method thereof are provided to improve a characteristic of high frequency and to stabilize the device by forming a protection layer in a side of a support part of the T-type gate electrode. A source electrode and a drain electrode are formed in an upper part of a substrate(201). A T-type gate electrode(211) is formed in the upper part of the substrate. The T-type gate electrode has a support part and a head part with a regular area. The support part is in contact with the substrate. The head part is integrated with the support part. A first protection layer(203) is formed in the side of the support part of the T-type gate electrode. A second protection layer(208) is formed in the side of the source and drain electrodes and the first protection layer.

    Abstract translation: 提供具有T型栅电极的半导体器件及其制造方法,以通过在T型栅电极的支撑部分的侧面形成保护层来提高高频特性并稳定器件。 源电极和漏电极形成在衬底(201)的上部。 在基板的上部形成有T型栅电极(211)。 T型栅极具有支撑部和具有规则面积的头部。 支撑部与基板接触。 头部与支撑部分集成。 第一保护层(203)形成在T型栅电极的支撑部分的侧面。 第二保护层(208)形成在源极和漏极以及第一保护层的侧面。

    리액턴스 성분을 보상한 연결 구조를 갖는 전력소자
    167.
    发明授权
    리액턴스 성분을 보상한 연결 구조를 갖는 전력소자 失效
    具有反应补偿结构的电力设备

    公开(公告)号:KR100768060B1

    公开(公告)日:2007-10-18

    申请号:KR1020060041854

    申请日:2006-05-10

    Abstract: 본 발명은 리액턴스 성분을 보상한 연결 구조를 갖는 전력소자에 관한 것으로서, 고주파 전력증폭기용으로 사용되는 전력소자를 높은 전력을 출력할 수 있도록 여러 개의 트랜지스터를 병렬로 연결하여 사용할 때 연결에 사용되는 전송선들에 의해 발생하는 위상차를 일으키는 리액턴스 성분을 보상하고 높은 출력전력으로 인해 발생하는 열을 접지로 보내 발열하도록 하여 트랜지스터가 열에 의한 특성이 열화되는 것을 최소화하도록 트랜지스터를 배치 및 연결하기 위한 전력소자를 제작하기 위한 것이다.
    리액턴스, 트랜지스터, 고주파 전력증폭기, 전력소자

    반도체 소자의 트랜지스터 및 그 제조방법
    168.
    发明授权
    반도체 소자의 트랜지스터 및 그 제조방법 失效
    半导体元件的晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:KR100616311B1

    公开(公告)日:2006-08-28

    申请号:KR1020050061301

    申请日:2005-07-07

    Abstract: 본 발명은 반도체 소자의 트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것으로, 반절연 기판 상에 완충층, 제1 실리콘 도핑층, 제1 전도층, 상기 제1 실리콘 도핑층과 다른 도핑 농도를 가지는 제2 실리콘 도핑층 및 제2 전도층이 순차적으로 적층된 에피 기판과, 상기 제1 실리콘 도핑층의 소정 깊이까지 침투되도록 상기 제2 전도층의 양측 상에 형성되어 오믹 접촉을 형성하는 소오스 전극 및 드레인 전극과, 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극 사이의 제2 전도층 상에 형성되어 상기 제2 전도층과 콘택을 형성하는 게이트 전극이 포함되되, 상기 게이트 전극과 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극간에는 절연막에 의해 전기적으로 절연되며, 상기 게이트 전극의 상부가 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극 중 적어도 하나에 소정부분 중첩되어 형성됨으로써, 게이트 턴-온 전압의 증가, 항복전압의 증가 및 수평전도성분의 감소로 인하여 스위치 소자에 인가되는 최대전압한계값을 증가시켜 스위치 장치의 파워수송능력의 개선에 따른 고전력 저왜곡 특성 및 격리도의 증가를 기대할 수 있는 효과가 있다.
    반도체 소자, 삽입 손실, 게이트 전극, 저손실 스위치, 고속 스위치

    전계효과 트랜지스터의 제조방법
    169.
    发明授权
    전계효과 트랜지스터의 제조방법 失效
    场效应晶体管的制造方法

    公开(公告)号:KR100606290B1

    公开(公告)日:2006-07-31

    申请号:KR1020040100421

    申请日:2004-12-02

    CPC classification number: H01L29/66856 H01L29/66462

    Abstract: 본 발명은 전계효과 트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로, 다층의 감광막을 이용한 리소그라피 공정, 절연막 건식 식각공정에서의 감광막과 절연막 사이의 건식 식각선택비를 이용하여 서로 다른 문턱전압을 가지는 각기 다른 트랜지스터를 한 기판 상에 동시에 제조함으로써, 모드 또는 문턱전압이 서로 다른 트랜지스터를 동일 기판 상에 제조하는데 있어 별도의 리소그라피 공정과 그에 따른 추가적인 공정 단계를 감소시켜 제조 공정 비용을 감소시키고 소자의 안정성 및 생산성을 향상시킬 수 있는 것을 특징으로 한다.
    전계효과 트랜지스터, 문턱전압, 게이트 리세스, 티형 게이트, 도즈, 노광

    반도체 소자의 트랜지스터 및 그 제조방법
    170.
    发明公开
    반도체 소자의 트랜지스터 및 그 제조방법 失效
    半导体器件的晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020060067127A

    公开(公告)日:2006-06-19

    申请号:KR1020050061301

    申请日:2005-07-07

    Abstract: 본 발명은 반도체 소자의 트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것으로, 반절연 기판 상에 완충층, 제1 실리콘 도핑층, 제1 전도층, 상기 제1 실리콘 도핑층과 다른 도핑 농도를 가지는 제2 실리콘 도핑층 및 제2 전도층이 순차적으로 적층된 에피 기판과, 상기 제1 실리콘 도핑층의 소정 깊이까지 침투되도록 상기 제2 전도층의 양측 상에 형성되어 오믹 접촉을 형성하는 소오스 전극 및 드레인 전극과, 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극 사이의 제2 전도층 상에 형성되어 상기 제2 전도층과 콘택을 형성하는 게이트 전극이 포함되되, 상기 게이트 전극과 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극간에는 절연막에 의해 전기적으로 절연되며, 상기 게이트 전극의 상부가 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극 중 적어도 하나에 소정부분 중첩되어 형성됨으로써, 게이트 턴-온 전압의 증가, 항복전압의 증가 및 수평전도성분의 감소로 인하여 스위치 소자에 인가되는 최대전압한계값을 증가시켜 스위치 장치의 파워수송능력의 개선에 따른 고전력 저왜곡 특성 및 격리도의 증가를 기대할 수 있는 효과가 있다.
    반도체 소자, 삽입 손실, 게이트 전극, 저손실 스위치, 고속 스위치

    Abstract translation: 本发明涉及一种晶体管和制造半导体器件的方法中,半绝缘基板,一第一掺杂硅层,所述第一导电层,与所述第一掺杂硅层和所述其它的掺杂浓度的第二掺杂硅层上的缓冲层 源电极和漏电极,形成在所述第二导电层的两侧以贯穿所述第一硅掺杂层的预定深度并与其形成欧姆接触; 在导电层和所述第二通过与所述栅电极和所述源电极和所述漏电极的栅极doedoe电极之间的绝缘膜电隔离上形成的源电极和第二,以形成一个导电层和所述漏电极之间的接触 并且,栅电极的上部形成为与源电极和漏电极中的至少一个的预定部分重叠, 的导通电压上升,由于在该击穿电压的增加和增加的最大电压极限水平传导部件的减少增加被施加到开关元件按照携带开关的容量高功率低失真特性的能力的提高,和隔离的栅极导 可以预期。

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