Abstract:
PURPOSE: An automatic gain control feedback amplifier is provided to freely control a gain even when a difference of an input signal is great. CONSTITUTION: An automatic gain control feedback amplifier (200) includes an amplifier circuit (210), a feedback circuit (220), and a bias circuit (230). The amplifier circuit amplifies a voltage inputted from an input terminal and outputs the voltage to an output terminal. The feedback circuit is connected between the input terminal and the output terminal. The feedback circuit includes a feedback resistor part (221) whose total voltage value is determined by one or more control signals and a feedback transistor connected to the feedback resistor part in parallel. The bias circuit provides a predetermined bias voltage to the feedback transistor.
Abstract:
PURPOSE: A vertical capacitor and a method for forming the same are provided to be manufactured in a substrate without a separate package. CONSTITUTION: An input electrode(14) and an output electrode(15) are formed in the upper surface(10a) of a substrate(10). A conductive material is formed in a first via hole formed by etching the lower surface(10b) of the substrate. The conductive material is connected to the input electrode and the output electrode. An input via electrode(24) and an output via electrode(25) are formed in the substrate. A dielectric layer(37) is formed between the input via electrode and the via electrode.
Abstract:
PURPOSE: A nitride electronic device and a manufacturing method thereof are provided to implement an integrated circuit with various properties on a single substrate by using design technology and unit process with a structure of a different channel layer and a barrier layer. CONSTITUTION: A low temperature buffer layer(102) is formed on a sapphire substrate(101). A first semi-insulating GaN layer(103) is formed on the low temperature buffer layer. A first channel layer(104) for an electron transfer is formed on the first semi-insulating GaN layer. A first barrier layer(105) is formed on the first channel layer. A second semi-insulating GaN layer(107) is formed on the sidewall of the first barrier layer and the first channel layer. A second channel layer(108) and a second barrier layer(109) are formed on the second semi-insulating GaN layer.
Abstract:
본 발명은 부정형 고전자이동도 트랜지스터의 제조방법 및 이에 의해 제조된 소자를 포함하는 파워 앰프에 관한 것으로, 에피 기판 상에 소오스 및 드레인을 형성하고, 상기 에피 기판을 건식법 및 습식법을 포함하는 게이트 리세스 에칭하여 리세스 영역을 형성하고, 상기 리세스 영역에 게이트를 형성하는 것을 포함하는 방법으로 부정형 고전자이동도 트랜지스터 소자를 제조하는 것을 특징으로 한다. 화합물 반도체 소자, PHEMT, 파워 앰프, 네가티브 피드백 회로
Abstract:
본 발명은 다층의 금속 배선 제조 방법에 관한 것으로서, 다층의 감광막을 이용한 리소그라피 공정과, 감광막과 절연막의 식각선택비를 이용하여 절연막 위에 다층의 금속 배선을 형성함으로써, 비아 홀(Via-Hole)과 배선 금속 증착을 위한 리소그라피 공정을 별도로 진행하지 않고, 한 번의 리소그라피 공정으로 진행할 수 있으며, 한 번의 노광을 통해 패턴이 형성됨으로써 오 정렬의 가능성을 줄일 수 있으며, 보다 간단하고, 안정적으로 다층의 금속 배선을 제작할 수 있다. 반도체 기판, 다층의 금속 배선, 다층의 감광막, 오믹금속층, 절연막, 감광막 패턴, 식각 공정, 리프트 오프 공정, 식각마스크.
Abstract:
A semiconductor device with a T-type gate electrode and a manufacturing method thereof are provided to improve a characteristic of high frequency and to stabilize the device by forming a protection layer in a side of a support part of the T-type gate electrode. A source electrode and a drain electrode are formed in an upper part of a substrate(201). A T-type gate electrode(211) is formed in the upper part of the substrate. The T-type gate electrode has a support part and a head part with a regular area. The support part is in contact with the substrate. The head part is integrated with the support part. A first protection layer(203) is formed in the side of the support part of the T-type gate electrode. A second protection layer(208) is formed in the side of the source and drain electrodes and the first protection layer.
Abstract:
본 발명은 리액턴스 성분을 보상한 연결 구조를 갖는 전력소자에 관한 것으로서, 고주파 전력증폭기용으로 사용되는 전력소자를 높은 전력을 출력할 수 있도록 여러 개의 트랜지스터를 병렬로 연결하여 사용할 때 연결에 사용되는 전송선들에 의해 발생하는 위상차를 일으키는 리액턴스 성분을 보상하고 높은 출력전력으로 인해 발생하는 열을 접지로 보내 발열하도록 하여 트랜지스터가 열에 의한 특성이 열화되는 것을 최소화하도록 트랜지스터를 배치 및 연결하기 위한 전력소자를 제작하기 위한 것이다. 리액턴스, 트랜지스터, 고주파 전력증폭기, 전력소자
Abstract:
본 발명은 반도체 소자의 트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것으로, 반절연 기판 상에 완충층, 제1 실리콘 도핑층, 제1 전도층, 상기 제1 실리콘 도핑층과 다른 도핑 농도를 가지는 제2 실리콘 도핑층 및 제2 전도층이 순차적으로 적층된 에피 기판과, 상기 제1 실리콘 도핑층의 소정 깊이까지 침투되도록 상기 제2 전도층의 양측 상에 형성되어 오믹 접촉을 형성하는 소오스 전극 및 드레인 전극과, 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극 사이의 제2 전도층 상에 형성되어 상기 제2 전도층과 콘택을 형성하는 게이트 전극이 포함되되, 상기 게이트 전극과 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극간에는 절연막에 의해 전기적으로 절연되며, 상기 게이트 전극의 상부가 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극 중 적어도 하나에 소정부분 중첩되어 형성됨으로써, 게이트 턴-온 전압의 증가, 항복전압의 증가 및 수평전도성분의 감소로 인하여 스위치 소자에 인가되는 최대전압한계값을 증가시켜 스위치 장치의 파워수송능력의 개선에 따른 고전력 저왜곡 특성 및 격리도의 증가를 기대할 수 있는 효과가 있다. 반도체 소자, 삽입 손실, 게이트 전극, 저손실 스위치, 고속 스위치
Abstract:
본 발명은 전계효과 트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로, 다층의 감광막을 이용한 리소그라피 공정, 절연막 건식 식각공정에서의 감광막과 절연막 사이의 건식 식각선택비를 이용하여 서로 다른 문턱전압을 가지는 각기 다른 트랜지스터를 한 기판 상에 동시에 제조함으로써, 모드 또는 문턱전압이 서로 다른 트랜지스터를 동일 기판 상에 제조하는데 있어 별도의 리소그라피 공정과 그에 따른 추가적인 공정 단계를 감소시켜 제조 공정 비용을 감소시키고 소자의 안정성 및 생산성을 향상시킬 수 있는 것을 특징으로 한다. 전계효과 트랜지스터, 문턱전압, 게이트 리세스, 티형 게이트, 도즈, 노광
Abstract:
본 발명은 반도체 소자의 트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것으로, 반절연 기판 상에 완충층, 제1 실리콘 도핑층, 제1 전도층, 상기 제1 실리콘 도핑층과 다른 도핑 농도를 가지는 제2 실리콘 도핑층 및 제2 전도층이 순차적으로 적층된 에피 기판과, 상기 제1 실리콘 도핑층의 소정 깊이까지 침투되도록 상기 제2 전도층의 양측 상에 형성되어 오믹 접촉을 형성하는 소오스 전극 및 드레인 전극과, 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극 사이의 제2 전도층 상에 형성되어 상기 제2 전도층과 콘택을 형성하는 게이트 전극이 포함되되, 상기 게이트 전극과 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극간에는 절연막에 의해 전기적으로 절연되며, 상기 게이트 전극의 상부가 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극 중 적어도 하나에 소정부분 중첩되어 형성됨으로써, 게이트 턴-온 전압의 증가, 항복전압의 증가 및 수평전도성분의 감소로 인하여 스위치 소자에 인가되는 최대전압한계값을 증가시켜 스위치 장치의 파워수송능력의 개선에 따른 고전력 저왜곡 특성 및 격리도의 증가를 기대할 수 있는 효과가 있다. 반도체 소자, 삽입 손실, 게이트 전극, 저손실 스위치, 고속 스위치