Beam detector
    2.
    发明专利
    Beam detector 有权
    光束检测器

    公开(公告)号:JP2006108675A

    公开(公告)日:2006-04-20

    申请号:JP2005288041

    申请日:2005-09-30

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an efficient and small-sized beam detector of a small required area which can be easily manufactured at a low cost for sensing a beam present in a visible spectrum region. SOLUTION: A signal formed in a first sensing element is taken out separately from a signal formed in a second sensing element, the first sensing element is partially permeative in a visible beam, and the visible beam which has permeated the first sensing element forms a signal in the second sensing element. COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种小的要求区域的有效和小尺寸的光束检测器,其可以以低成本容易地制造用于感测存在于可见光谱区域中的光束。 解决方案:形成在第一感测元件中的信号与形成在第二感测元件中的信号分离地取出,第一感测元件部分地透过可见光束,并且已经渗透到第一感测元件的可见光束 在第二感测元件中形成信号。 版权所有(C)2006,JPO&NCIPI

    Halbleiterschichtenfolge und Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterschichtenfolge

    公开(公告)号:DE112014000633B4

    公开(公告)日:2020-03-26

    申请号:DE112014000633

    申请日:2014-01-28

    Abstract: Halbleiterschichtenfolge (100) umfassend eine erste nitridische Verbindungshalbleiterschicht (1), eine zweite nitridische Verbindungshalbleiterschicht (2), und eine zwischen der ersten (1) und zweiten nitridischen Verbindungshalbleiterschicht (2) angeordnete Zwischenschicht (10),- wobei beginnend mit der ersten nitridischen Verbindungshalbleiterschicht (1) die Zwischenschicht (10) und die zweite nitridische Verbindungshalbleiterschicht (2) in einer Wachstumsrichtung (Z) der Halbleiterschichtenfolge (100) nachfolgend angeordnet sind,- wobei die Zwischenschicht (10) zumindest stellenweise eine von der ersten nitridischen Verbindungshalbleiterschicht (1) verschiedene Gitterkonstante aufweist,- wobei die zweite nitridische Verbindungshalbleiterschicht (2) zu der Zwischenschicht (10) zumindest stellenweise gitterangepasst ist, und- wobei die Zwischenschicht (10) Mikrorisse (11) umfasst und in den Mikrorissen (11) die zweite nitridische Verbindungshalbleiterschicht (2) zumindest stellenweise vorhanden ist.

    OPTOELECTRONIC SEMICONDUCTOR CHIP
    10.
    发明申请
    OPTOELECTRONIC SEMICONDUCTOR CHIP 审中-公开
    光电子半导体芯片

    公开(公告)号:WO2016156312A1

    公开(公告)日:2016-10-06

    申请号:PCT/EP2016056794

    申请日:2016-03-29

    CPC classification number: H01L33/06

    Abstract: In one embodiment the optoelectronic semiconductor chip (1) comprises an active zone with a multiple quantum well structure (3) containing a number of quantum well layers (31) and barrier layers (32) disposed sequentially in an alternating manner in a growth direction (G), each layer extending continuously over the entire multiple quantum well structure (3). When viewed in cross-section parallel to the growth direction (G), the multiple quantum well structure (3) has at least one emission region (41) and a number of transport regions (42) disposed sequentially in an alternating manner in a direction perpendicular to the growth region (G). The quantum well layers (31) and/or the barrier layers (32) in the transport regions (42) are thinner than and/or have a different material composition from those in the emission regions (41).

    Abstract translation: 在光电子半导体芯片的实施例(1)包括一个具有多量子阱结构(3),其包括沿着生长方向(G)设置在多个量子阱层(31)和阻挡层(32)的有源区彼此跟随交替和其中的每一个连续延伸超过 整个多量子阱结构(3)延伸。 看到的截面中,以生长方向(G)平行,所述多量子阱结构(3)的至少一个发射区(41)和多个输送区域(42),其交替地跟随在一个方向上相互垂直于生长方向(G)的。 在传送区域(42)的量子阱层(31)和/或所述阻挡层(32)被制造得更薄和/或具有不同的材料组成比在发射区(41)。

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