박막 트랜지스터 및 그 제조방법
    23.
    发明公开
    박막 트랜지스터 및 그 제조방법 有权
    薄膜晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020110103736A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:KR1020100022944

    申请日:2010-03-15

    Abstract: 온전류의 크기를 유지하면서 누설전류를 줄일 수 있는 박막 트랜지스터를 개시한다. 본 발명에 의한 박막 트랜지스터는 기판; 양끝단의 소스 영역 및 드레인 영역, 상기 소스 영역 또는 상기 드레인 영역에 인접한 저농도 도핑영역, 적어도 둘 이상의 채널영역, 상기 채널영역 사이의 고농도 도핑영역을 포함하는 상기 기판 위의 활성층; 상기 활성층 위의 게이트 절연막; 적어도 둘 이상의 개별 게이트 전극을 포함하고, 상기 개별 게이트 전극 아래에 채널영역이 위치하고, 최외각의 상기 개별 게이트 전극의 바깥쪽으로 상기 소스 영역 및 상기 드레인 영역이 위치한 상기 게이트 절연막 위의 다중 게이트 전극; 상기 다중 게이트 전극 위의 제1 층간 절연막; 및 상기 제1 층간 절연막을 관통하여 상기 소스 영역과 상기 드레인 영역에 각각 접촉하는 소스 전극 및 드레인 전극; 을 포함한다.

    스퍼터링 장치
    24.
    发明公开
    스퍼터링 장치 有权
    溅射装置

    公开(公告)号:KR1020110057465A

    公开(公告)日:2011-06-01

    申请号:KR1020090113887

    申请日:2009-11-24

    Abstract: PURPOSE: A sputtering device for depositing a metal catalyst is provided to improve the uniformity of metal catalyst of the extreme low density on a substrate by minimizing the deposition of metal catalyst discharged from a metal target in a pre-sputtering process. CONSTITUTION: A metal target(120) is located in a process chamber(110). A target transfer unit(130) includes a first shield(150) to control the progressing direction of a metal catalyst discharged from the metal target. A substrate holder(140) faces the metal target. The difference between the length of the first shield and the distance between the substrate and the metal target is 3 cm or less.

    Abstract translation: 目的:提供一种用于沉积金属催化剂的溅射装置,通过在预溅射过程中使从金属靶排出的金属催化剂的沉积最小化来改善金属催化剂在基板上的极低密度的均匀性。 构成:金属靶(120)位于处理室(110)中。 目标传送单元(130)包括用于控制从金属靶排出的金属催化剂的前进方向的第一屏蔽(150)。 衬底保持器(140)面向金属靶。 第一屏蔽的长度与基板与金属靶之间的距离之差为3cm以下。

    박막트랜지스터, 그를 구비하는 유기전계발광표시장치 및 그들의 제조방법
    25.
    发明公开
    박막트랜지스터, 그를 구비하는 유기전계발광표시장치 및 그들의 제조방법 有权
    薄膜晶体管,包含TFT的有机发光显示装置及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020110053041A

    公开(公告)日:2011-05-19

    申请号:KR1020090109837

    申请日:2009-11-13

    Abstract: PURPOSE: A thin film transistor, an organic electroluminescent display device including the same and manufacturing methods thereof are provided to improve the property of a semiconductor layer by controlling metal silicide due to metal catalyst. CONSTITUTION: A semiconductor layer includes one or more channel regions and a source/drain region on a buffer layer. A gate insulation layer is located on the substrate. A gate electrode(150) is located on the gate insulation layer. An interlayer insulation layer(160) is located on the substrate. Source and drain electrodes(170a,170b) are located on the interlayer insulation layer and are electrically connected to the semiconductor layer. A polycrystalline silicon layer of the channel region of the semiconductor layer includes only the low angle grain boundary. A high angle grain boundary is located on the region except the channel region of the semiconductor layer.

    Abstract translation: 目的:提供薄膜晶体管,包括该薄膜晶体管的有机电致发光显示装置及其制造方法,以通过控制由于金属催化剂引起的金属硅化物来改善半导体层的性能。 构成:半导体层包括缓冲层上的一个或多个沟道区和源极/漏极区。 栅极绝缘层位于衬底上。 栅电极(150)位于栅极绝缘层上。 层间绝缘层(160)位于基板上。 源电极和漏电极(170a,170b)位于层间绝缘层上并与半导体层电连接。 半导体层的沟道区域的多晶硅层仅包含低角度晶界。 高角度晶界位于半导体层的沟道区域以外的区域。

    스퍼터링 장치
    26.
    发明公开
    스퍼터링 장치 无效
    溅射装置

    公开(公告)号:KR1020110039920A

    公开(公告)日:2011-04-20

    申请号:KR1020090096978

    申请日:2009-10-12

    CPC classification number: C23C14/34

    Abstract: PURPOSE: A sputtering apparatus is provided to uniformly deposit metallic catalyst of very low density on a substrate by reducing the unevenness of a metallic catalyst which is deposited at the edge of the substrate. CONSTITUTION: In a sputtering apparatus, a metal target(120) is arranged in a reaction chamber. The area of the metal target is at least 1.3 times larger than that of the substrate mounted in a substrate holder. A substrate holder(130) is arranged to be faced with the metal target. A vacuum pump(140) is connected to the exhaust pipe of the reaction chamber. A first shield(160) controls the progressive direction of the metallic catalyst discharged from the metal target.

    Abstract translation: 目的:提供一种溅射装置,通过减少沉积在基板边缘的金属催化剂的不均匀性,在基板上均匀沉积非常低密度的金属催化剂。 构成:在溅射装置中,金属靶(120)布置在反应室中。 金属靶的面积比安装在衬底保持器中的衬底的面积大至少1.3倍。 衬底保持器(130)布置成面对金属靶。 真空泵(140)连接到反应室的排气管。 第一屏蔽(160)控制从金属靶排出的金属催化剂的行进方向。

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