원자층 증착 기술을 이용한 안티몬을 포함하는 박막의 형성 방법
    31.
    发明授权
    원자층 증착 기술을 이용한 안티몬을 포함하는 박막의 형성 방법 有权
    使用原子层沉积的锑薄膜的制备方法

    公开(公告)号:KR101335019B1

    公开(公告)日:2013-12-02

    申请号:KR1020120026274

    申请日:2012-03-14

    Abstract: 안티몬 박막의 제조 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 안티몬 박막의 제조 방법은 진공 챔버 내에 기판을 준비하는 단계; 안티몬 전구체 물질을 준비하는 단계; 상기 안티몬 전구체 물질로 소스가스를 준비하는 단계; 수소 가스를 포함하는 반응가스를 준비하는 단계; 퍼지가스를 준비하는 단계; 금속 전구체 물질로 금속 전구체 가스를 준비하는 단계; 및 상기 진공챔버 내에 상기 소스가스, 반응가스, 퍼지가스 및 상기 금속 전구체 가스를 순차적으로 공급하는 1사이클의 공정을 실시하여 상기 기판 상에 안티몬-금속의 단원자층 박막을 형성하는 단계;를 포함하고, 상기 안티몬 전구체 물질은 다음 화학식 1로 표시되는 안티몬 아미노알콕사이드인 것을 특징으로 하는 안티몬 박막의 제조 방법: [화학식 1] Sb[OA-NR
    1 R
    2 ]
    3 상기 식 중, A는 C
    1 내지 C
    10 의 선형 또는 분지형 알킬기로 치환 또는 비치환된 C
    2 내지 C
    5 의 알킬렌이고; R
    1 및 R
    2 는 각각 독립적으로 C
    1 내지 C
    10 의 선형 또는 분지형 알킬기이다.

    신규의 텅스텐 아미노아미드 할로겐 화합물, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법
    34.
    发明授权
    신규의 텅스텐 아미노아미드 할로겐 화합물, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법 有权
    新型钨酸铵化合物,其制备方法及使用其形成薄膜的方法

    公开(公告)号:KR101306811B1

    公开(公告)日:2013-09-10

    申请号:KR1020120049229

    申请日:2012-05-09

    CPC classification number: C07F11/00 C23C16/18 C23C16/45553

    Abstract: PURPOSE: A novel tungsten aminoamide halogen compound is provided to have thermal stability and high volatility, thereby simply manufacturing a thin film containing high quality tungsten. CONSTITUTION: A tungsten compound is denoted by chemical formula 1. A method for preparing the tungsten compound of chemical formula 1 comprises the step of making a compound of chemical formula 2 react with a compound of chemical formula 3. A thin film containing tungsten is grown by chemical vapor deposition (CVD) or atomic layer deposition (ALD) using the tungsten compound.

    Abstract translation: 目的:提供新的钨氨基酰胺卤素化合物以具有热稳定性和高挥发性,从而简单地制造含有高质量钨的薄膜。 构成:化学式1表示钨化合物。化学式1的钨化合物的制备方法包括使化学式2的化合物与化学式3的化合物反应的步骤。生长含钨的薄膜 通过使用钨化合物的化学气相沉积(CVD)或原子层沉积(ALD)。

    신규의 텅스텐 아미노알콕사이드 화합물, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법
    35.
    发明授权
    신규의 텅스텐 아미노알콕사이드 화합물, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법 有权
    新型硝基烷氧基化合物,其制备方法和使用其形成薄膜的方法

    公开(公告)号:KR101306810B1

    公开(公告)日:2013-09-10

    申请号:KR1020120049225

    申请日:2012-05-09

    CPC classification number: C07F11/00 C23C16/18 C23C16/45553

    Abstract: PURPOSE: A novel tungsten aminoalkoxide compound is provided to have thermal stability and high volatility, thereby easily producing a thin film containing high quality tungsten. CONSTITUTION: A tungsten compound is denoted by chemical formula 1. A method for preparing the tungsten compound of chemical formula 1 comprises the step of reacting a compound of chemical formula 2 with a compound of chemical formula 3. A thin film containing tungsten is grown by chemical vapor deposition (CVD) or atomic layer deposition (ALD) using the tungsten compound.

    Abstract translation: 目的:提供新的钨氨基烷氧基化合物以具有热稳定性和高挥发性,从而容易地生产含有高质量钨的薄膜。 构成:化学式1表示钨化合物。化学式1的钨化合物的制备方法包括使化学式2的化合物与化学式3的化合物反应的步骤。含有钨的薄膜通过 化学气相沉积(CVD)或原子层沉积(ALD)。

    그래핀 기반 소자에 응용 할 수 있는 패턴된 그래핀의 제조방법
    37.
    发明授权
    그래핀 기반 소자에 응용 할 수 있는 패턴된 그래핀의 제조방법 有权
    适用于基于石墨的设备的图案的制备

    公开(公告)号:KR101174670B1

    公开(公告)日:2012-08-17

    申请号:KR1020110045313

    申请日:2011-05-13

    CPC classification number: H01L21/0273 H01L21/0274 H01L29/786 H01L29/78606

    Abstract: PURPOSE: A method for manufacturing a patterned graphene applied to a graphene based device is provided to manufacture a single-multilayered graphene with a desirable pattern by using a patterned metal catalyst layer. CONSTITUTION: A substrate is prepared. A mask is fixed to the substrate. A patterned metal catalyst layer is formed on the substrate. A graphene layer is grown on the metal catalyst layer. The grown graphene layer is transferred to the insulation layer.

    Abstract translation: 目的:提供一种用于制造施加到基于石墨烯的器件的图案化石墨烯的方法,以通过使用图案化的金属催化剂层制造具有所需图案的单层多层石墨烯。 构成:制备底物。 掩模固定在基板上。 在基板上形成图案化的金属催化剂层。 在金属催化剂层上生长石墨烯层。 生长的石墨烯层被转移到绝缘层。

    소거 동작을 제거한 저항 스위칭 메모리

    公开(公告)号:KR102226791B1

    公开(公告)日:2021-03-11

    申请号:KR1020190013114

    申请日:2019-01-31

    Abstract: 본발명은소거동작을제거한저항스위칭메모리를공개한다. 이장치는하부전극층, 가변저항막및 상부전극층의적층을포함하는저항스위칭메모리에있어서, 멀티비트동작구간동안상기상부전극층과상기가변저항막의인터페이스근처에서산소부족층이형성되어저항스위칭메모리동작중 소거동작이제거되는것을특징으로한다. 본발명에의할경우, 상부전극층이부분적으로산화되어, 저항스위칭메모리에서요구되는저항스위칭성능을수행하기위하여필요한양호한산소저장소및 적절한부하저항기능을할 수있게된다.

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