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公开(公告)号:DE102011054784A1
公开(公告)日:2012-04-26
申请号:DE102011054784
申请日:2011-10-25
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: KADOW CHRISTOPH , MEYER THORSTEN , WERNER WOLFGANG
Abstract: Ein Halbleiterdie enthält ein Substrat (12), ein erstes Bauelementgebiet (18) und ein zweites Bauelementgebiet (20). Das erste Bauelementgebiet (18) enthält eine Epitaxialschicht (14) auf dem Substrat (12) und ein oder mehrere, in der Epitaxialschicht (14) des ersten Bauelementgebiets (18) ausgebildete Halbleiterbauelemente von einem ersten Typ. Das zweite Bauelementgebiet (20) ist von dem ersten Bauelementgebiet (18) beabstandet und enthält eine Epitaxialschicht (14, 16) auf dem Substrat (12) und ein oder mehrere, in der Epitaxialschicht (14, 16) des zweiten Bauelementgebiets (20) ausgebildete Halbleiterbauelemente von einem zweiten Typ. Die Epitaxialschicht (14) des ersten Bauelementgebiets (18) ist von der Epitaxialschicht (14, 16) des zweiten Bauelementgebiets (20) verschieden, so dass das eine oder die mehreren Halbleiterbauelemente vom ersten Typ in einer anderen Epitaxialschicht als das eine oder die mehreren Halbleiterbauelemente von dem zweiten Typ ausgebildet werden.
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公开(公告)号:DE10057612B4
公开(公告)日:2012-03-08
申请号:DE10057612
申请日:2000-11-21
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: WERNER WOLFGANG
IPC: H01L29/06 , H01L29/739 , H01L29/861
Abstract: Halbleiterbauelement mit einem Halbleiterkörper (100), der ein Substrat (34) und eine auf das Substrat aufgebrachte Epitaxieschicht aufweist und der eine erste Zone (20) eines ersten Leitungstyps (p) und eine sich in einer vertikalen Richtung des Halbleiterkörpers (100) an die erste Zone (20) anschließende zweite Zone (30) eines zweiten Leitungstyps (n) aufweist, wobei die zweite Zone (30) eine stark dotierte Anschlusszone (34), die durch das Substrat gebildet ist, und eine in der Epitaxieschicht ausgebildete und sich an die erste Zone (20) anschließende schwächer dotierte Zone (32) aufweist, wobei die erste Zone (20) sich in lateraler Richtung des Halbleiterkörpers (100) bis an eine Seitenwand (101) erstreckt, die wenigstens annäherungsweise in vertikaler Richtung verläuft und die durch einen stufenförmigen Ausschnitt (102) am Rand des Halbleiterkörpers (100) gebildet ist, der sich in vertikaler Richtung des Halbleiterkörpers (100) bis an das Substrat erstreckt, und wobei der Halbleiterkörper im Bereich der Seitenwand...
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公开(公告)号:DE102005024943B4
公开(公告)日:2009-11-05
申请号:DE102005024943
申请日:2005-05-31
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: WERNER WOLFGANG , TIHANYI JENOE
IPC: H01L29/739 , H01L21/331
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公开(公告)号:DE10062637B4
公开(公告)日:2009-05-28
申请号:DE10062637
申请日:2000-12-15
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: KOLB STEFAN , WERNER WOLFGANG
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公开(公告)号:DE102004002908B4
公开(公告)日:2008-01-24
申请号:DE102004002908
申请日:2004-01-20
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: SCHMIDT GERHARD , ZELSACHER RUDOLF , BAER MICHAEL , WERNER WOLFGANG , WINKLER BERNHARD
Abstract: A semiconductor component ( 1 ) includes a substrate, an active area ( 2 ), formed in/on the substrate, and a passivation layer ( 5 ) which is provided at least above part of the active area ( 2 ). The passivation layer ( 5 ) at least partially comprises amorphous, hydrogen-doped carbon. The provision of a passivation layer of this type allows the semiconductor component ( 1 ) to be effectively protected against environmental influences.
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公开(公告)号:DE10026742B4
公开(公告)日:2007-11-22
申请号:DE10026742
申请日:2000-05-30
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: WERNER WOLFGANG
Abstract: The semiconductor switching element blocks in both directions between a first and a second load terminal. The switching element has a field effect transistor and a bipolar transistor. The field effect transistor has a controlled gate, a source connected to the first load terminal, a drain connected to the second load terminal and a body connection. The bipolar transistor has a base, an emitter, and a collector. The emitter is connected to the body connection of the field effect transistor.
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公开(公告)号:DE10129348B4
公开(公告)日:2007-04-05
申请号:DE10129348
申请日:2001-06-19
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: WERNER WOLFGANG , HIRLER FRANZ
IPC: H01L29/78 , H01L21/336 , H01L29/06 , H01L29/08 , H01L29/10 , H01L29/423
Abstract: A semiconductor component includes a first connection zone of a first conductivity type for providing a contact at a first side of a semiconductor body and a second connection zone of the first conductivity type for providing a contact at the second side of the semiconductor body. A drift zone adjoins the first connection zone and extends in a vertical direction of the semiconductor body as far as the second side of the semiconductor body. A body zone of a second conductivity type is disposed between the second connection zone and the first connection zone or the drift zone. A control electrode is insulated from the semiconductor body and disposed above the body zone such that the control electrode substantially does not overlap with the drift zone and the second connection zone in a lateral direction. A method for manufacturing a semiconductor component is also provided.
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公开(公告)号:DE10232642B4
公开(公告)日:2006-11-23
申请号:DE10232642
申请日:2002-07-18
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: STRZALKOWSKI BERNHARD , KAHLMANN FRANK , WERNER WOLFGANG
Abstract: An integrated transformer for signal transmission comprises a long coil of rectangular cross-section which is electrically isolated from, but adjacent to, a second coil. The ratio between the height and width of the rectangular coil is greater than unity and preferably. more than three.
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公开(公告)号:DE102004057235A1
公开(公告)日:2006-06-01
申请号:DE102004057235
申请日:2004-11-26
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: HIRLER FRANZ , WERNER WOLFGANG , KRUMREY JOACHIM
IPC: H01L29/78 , H01L21/336
Abstract: The transistor has transistor cells with source regions (6), body regions (7), gate electrode (9) and contact holes. The contact holes are designed for contacting the source and body regions, where borders of the holes adjoin at a drift region. Body contact regions are arranged between the body regions and the contact holes. The dimensions and designs of the body regions or body contact regions are selected. An independent claim is also included for a method for manufacturing body regions and accordingly body contact regions in a vertical trench transistor.
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公开(公告)号:DE102004041892A1
公开(公告)日:2006-03-02
申请号:DE102004041892
申请日:2004-08-30
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: ZUNDEL MARKUS , WERNER WOLFGANG , HIRLER FRANZ
IPC: H01L21/336 , H01L29/739 , H01L29/78
Abstract: Trench transistor comprises cell field with several cell field trenches (2) and at least one edge trench (51,52) adjacent to cell field. Sum of widths of all m esa regions (24,25), between last cell field trench and between different edge trenches, at least partly cleaned in blocked state, is specified.Sum of widths lies in region of 0 to 0.7 times of mesa width between two adjacent active cell field trenches, typically 0.5 times. Trench transistor may contain two edge trenches with specified spacing between last cell field trench and first edge trench. INDEPENDENT CLAIM is included for edge structure forming method.
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