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公开(公告)号:WO2014195840A2
公开(公告)日:2014-12-11
申请号:PCT/IB2014061853
申请日:2014-05-30
Applicant: IBM , IBM CHINA LTD
Inventor: COONEY EDWARD C , DANG DINH , DEMUYNCK DAVID A , MC TAGGART SARAH A , MILO GARY L , ROMA MELISSA J , THOMPSON JEFFREY L , WEEKS THOMAS W
CPC classification number: H01L28/10 , H01L23/5227 , H01L23/5329 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: A method including forming a first metal wire in a first dielectric layer, the first metal wire including a first vertical side opposite from a second vertical side; and forming a second metal wire in a second dielectric layer above the first dielectric layer, the second metal wire including a third vertical side opposite from a fourth vertical side, where the first vertical side is laterally offset from the third vertical side by a first predetermined distance, and the second vertical side is laterally offset from the fourth vertical side by a second predetermined distance, where the first metal wire and the second metal wire are in direct contact with one another.
Abstract translation: 一种包括在第一电介质层中形成第一金属线的方法,所述第一金属线包括与第二垂直侧相对的第一垂直侧; 以及在所述第一电介质层上方的第二电介质层中形成第二金属线,所述第二金属线包括与第四垂直侧相反的第三垂直侧,其中所述第一垂直侧从所述第三垂直侧横向偏移第一预定 距离,第二垂直侧与第四垂直侧横向偏移第二预定距离,其中第一金属线和第二金属线彼此直接接触。
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公开(公告)号:WO2013066455A3
公开(公告)日:2014-05-08
申请号:PCT/US2012049414
申请日:2012-08-03
Applicant: IBM , COONEY EDWARD C , DUNN JAMES S , MARTIN DALE W , MUSANTE CHARLES F , RAINEY BETHANN , SHI LEATHEN , SPROGIS EDMUND J , TSANG CORNELIA K
Inventor: COONEY EDWARD C , DUNN JAMES S , MARTIN DALE W , MUSANTE CHARLES F , RAINEY BETHANN , SHI LEATHEN , SPROGIS EDMUND J , TSANG CORNELIA K
CPC classification number: H01L23/4825 , H01L21/6835 , H01L21/76819 , H01L22/32 , H01L22/34 , H01L23/5223 , H01L23/5283 , H01L24/02 , H01L24/03 , H01L24/05 , H01L24/06 , H01L24/08 , H01L24/13 , H01L24/16 , H01L24/80 , H01L24/81 , H01L29/1054 , H01L2221/68327 , H01L2221/6834 , H01L2221/68363 , H01L2221/68381 , H01L2224/0361 , H01L2224/0401 , H01L2224/05166 , H01L2224/05187 , H01L2224/05567 , H01L2224/05624 , H01L2224/05687 , H01L2224/06181 , H01L2224/08225 , H01L2224/131 , H01L2224/73251 , H01L2224/80011 , H01L2224/80013 , H01L2224/80075 , H01L2224/80203 , H01L2224/804 , H01L2224/80487 , H01L2224/80896 , H01L2224/80907 , H01L2224/80948 , H01L2224/81203 , H01L2224/81801 , H01L2224/81815 , H01L2924/00014 , H01L2924/12042 , H01L2924/1305 , H01L2924/1306 , H01L2924/13062 , H01L2924/15788 , H01L2924/014 , H01L2224/08 , H01L2224/16 , H01L2924/05432 , H01L2924/053 , H01L2924/01031 , H01L2924/01033 , H01L2924/04941 , H01L2924/00 , H01L2224/05552
Abstract: Methods for bonding substrate surfaces, bonded substrate assemblies, and design structures for a bonded substrate assembly. Device structures (18, 19, 20, 21) of a product chip (25) are formed using a first surface (15) of a device substrate (10). A wiring layer (26) of an interconnect structure for the device structures is formed on the product chip. The wiring layer is planarized. A temporary handle wafer (52) is removably bonded to the planarized wiring layer. In response to removably bonding the temporary handle wafer to the planarized first wiring layer, a second surface (54) of the device substrate, which is opposite to the first surface, is bonded to a final handle substrate (56). The temporary handle wafer is then removed from the assembly.
Abstract translation: 用于粘合基板表面,粘合基板组件以及用于键合衬底组件的设计结构的方法。 使用器件衬底(10)的第一表面(15)形成产品芯片(25)的器件结构(18,19,20,21)。 在产品芯片上形成用于器件结构的互连结构的布线层(26)。 布线层被平坦化。 临时处理晶片(52)可移除地结合到平坦化的布线层。 响应于将临时手柄晶片可移除地结合到平坦化的第一布线层,与第一表面相对的器件基板的第二表面(54)被结合到最终的手柄基板(56)。 然后将临时手柄晶片从组件中取出。
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公开(公告)号:DE112012003959T5
公开(公告)日:2014-07-03
申请号:DE112012003959
申请日:2012-09-11
Applicant: IBM
Inventor: COONEY EDWARD C , GAMBINO JEFFREY P , HE ZHONG-XLANG , LIU XIAO-HU , MILO GARY L , MURPHY WILLIAM J , MCDEVITT THOMAS L
IPC: H01L21/4763
Abstract: Eine Einheit, die einen Isolator und Schichten auf dem Isolator aufweist. Jede der Schichten beinhaltet einen ersten Metallleiter und einen zweiten Metallleiter, der benachbart zu dem ersten Metallleiter positioniert ist. Die ersten Metallleiter beinhalten eine erste vertikal gestapelte Struktur, und die zweiten Metallleiter beinhalten eine zweite vertikal gestapelt Struktur. Zumindest ein Luftspalt ist zwischen der ersten vertikal gestapelten Struktur und der zweiten vertikal gestapelten Struktur positioniert. Der Spalt kann eine Metallfüllung beinhalten.
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公开(公告)号:DE112012004106T5
公开(公告)日:2014-07-10
申请号:DE112012004106
申请日:2012-08-03
Applicant: IBM
Inventor: COONEY EDWARD C , DUNN JAMES S , MARTIN DALE W , MUSANTE CHARLES F , RAINEY BETH-ANN , SHI LEATHEN , SPROGIS EDMUND J , TSANG CORNELIA K
Abstract: Verfahren zum Bonden von Substratoberflächen, gebondete Substratanordnungen sowie Entwurfsstrukturen für eine gebondete Substratanordnung. Es werden Einheiten-Strukturen (18, 19, 20, 21) eines Produkt-Chips (25) unter Verwendung einer ersten Oberfläche (15) eines Einheiten-Substrats (10) gebildet. Auf dem Produkt-Chip wird eine Verdrahtungsschicht (26) einer Zwischenverbindungsstruktur für die Einheiten-Strukturen gebildet. Die Verdrahtungsschicht wird planarisiert. Ein provisorischer Handhabungswafer (52) wird entfernbar an die planarisierte Verdrahtungsschicht gebondet. In Reaktion auf das entfernbare Bonden des provisorischen Handhabungswafers an die planarisierte erste Verdrahtungsschicht wird eine zweite Oberfläche (54) des Einheiten-Substrats, die entgegengesetzt zu der ersten Oberfläche ist, an ein endgültiges Handhabungssubstrat (56) gebondet. Anschließend wird der provisorische Handhabungswafer von der Anordnung entfernt.
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公开(公告)号:GB2509683A
公开(公告)日:2014-07-09
申请号:GB201408711
申请日:2012-08-03
Applicant: IBM
Inventor: COONEY EDWARD C , DUNN JAMES S , MARTIN DALE W , MUSANTE CHARLES F , RAINEY BETH-ANN , SHI LEATHEN , SPROGIS EDMUND J , TSANG CORNELIA K
IPC: H01L23/522 , H01L21/768 , H01L23/528
Abstract: Methods for bonding substrate surfaces, bonded substrate assemblies, and design structures for a bonded substrate assembly. Device structures (18, 19, 20, 21) of a product chip (25) are formed using a first surface (15) of a device substrate (10). A wiring layer (26) of an interconnect structure for the device structures is formed on the product chip. The wiring layer is planarized. A temporary handle wafer (52) is removably bonded to the planarized wiring layer. In response to removably bonding the temporary handle wafer to the planarized first wiring layer, a second surface (54) of the device substrate, which is opposite to the first surface, is bonded to a final handle substrate (56). The temporary handle wafer is then removed from the assembly.
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6.
公开(公告)号:SG73615A1
公开(公告)日:2000-06-20
申请号:SG1999001011
申请日:1999-02-23
Applicant: IBM
Inventor: COONEY EDWARD C , LUCE STEPHEN E , COTE WILLIAM JOSEPH , GOLDBLATT RONALD D
IPC: H01L21/768 , H01L21/28 , H01L21/283 , H01L21/98 , H01L23/52
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公开(公告)号:GB2509683B
公开(公告)日:2015-07-29
申请号:GB201408711
申请日:2012-08-03
Applicant: IBM
Inventor: COONEY EDWARD C , DUNN JAMES S , MARTIN DALE W , MUSANTE CHARLES F , RAINEY BETH-ANN , SHI LEATHEN , SPROGIS EDMUND J , TSANG CORNELIA K
IPC: H01L23/522 , H01L21/768 , H01L23/528
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公开(公告)号:GB2512783A
公开(公告)日:2014-10-08
申请号:GB201412764
申请日:2013-01-03
Applicant: IBM
Inventor: COONEY EDWARD C , GAMBINO JEFFREY P , HE ZHONG-XIANG , LEE TOM C , LIU XIAO HU
IPC: H01L21/768 , H01L23/522 , H01L23/528 , H01L23/532
Abstract: Methods for fabricating a back-end-of-line (BEOL) wiring structure, BEOL wiring structures (10), and design structures for a BEOL wiring structure. The BEOL wiring may be fabricated by forming a first wire (44, 45) in a dielectric layer (18) and annealing the first wire in an oxygen- free atmosphere. After the first wire is annealed, a second wire (60, 61) is formed in vertical alignment with the first wire. A final passivation layer (74), which is comprised of an organic material such as polyimide, is formed that covers an entirety of a sidewall of the second wire.
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公开(公告)号:DE112013000373T5
公开(公告)日:2014-08-28
申请号:DE112013000373
申请日:2013-01-03
Applicant: IBM
Inventor: COONEY EDWARD C , GAMBINO JEFFREY P , HE ZHONG-XIANG , LEE TOM C , LIU XIAO H
IPC: H01L21/00
Abstract: Verfahren zum Herstellen einer Back-End-of-Line(BEOL)-Verdrahtungsstruktur, BEOL-Verdrahtungsstrukturen (10) sowie Entwurfsstrukturen für eine BEOL-Verdrahtungsstruktur. Die BEOL-Verdrahtungsstruktur kann mittels Bilden eines ersten Drahtes (44, 45) in einer dielektrischen Schicht (18) und Wärmebehandeln des ersten Drahtes in einer sauerstofffreien Umgebung hergestellt werden. Nach der Wärmebehandlung des ersten Drahtes wird ein zweiter Draht (60, 61) in vertikaler Ausrichtung zu dem ersten Draht gebildet. Es wird eine abschließende Passivierungsschicht (74) gebildet, die aus einem organischen Material wie beispielsweise Polyimid besteht, welche eine Gesamtheit einer Seitenwand des zweiten Drahtes bedeckt.
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公开(公告)号:MY127478A
公开(公告)日:2006-12-29
申请号:MYPI9704675
申请日:1997-10-06
Applicant: IBM
Inventor: COONEY EDWARD C , LEE HYUN K , MCDEVITT THOMAS L , STAMPER ANTHONY K
IPC: H05K1/00 , H01L21/285 , H01L21/314 , H01L21/316 , H01L21/768 , H01L23/522
Abstract: METHOD OF IMPROVING THE RESISTANCE OF A METAL AGAINST DEGRADATION FROM EXPOSURE TO FLUORINE RELEASED FROM A FLUORINE- CONTAINING MATERIAL BY FORMING A FLUORINE-BARRIER LAYER BETWEEN THE INSULATOR MATERIAL AND THE METAL. THE INVENTION IS ESPECIALLY USEFUL IN IMPROVING CORROSION AND POISONING RESISTANCE OF METALLURGY, SUCH AS ALUMINUM METALLURGY, IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES. THE INVENTION ALSO COVERS INTEGRATED CIRCUIT STRUCTURES MADE BY THIS METHOD. (FIG. 2F)
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