Abstract:
Successive two-trip traversals of charges between gates G.sub.0 and G.sub.2 make it possible to obtain beneath gates G.sub.1 and G.sub.2 quantities of charges equal to Q.sub.R, Q.sub.R /2, Q.sub.R /2.sup.2 . . . Q.sub.R /2.sup.i. A readout device for reading charges and connected to gates G.sub.2 and G.sub.4 generates voltages V.sub.R and V.sub.Ri =a.sub.0 .multidot.V.sub.R +a.sub.1 .multidot.V.sub.R /2+ . . . +a.sub.i-1 .multidot.V.sub.R /2.sup.i-1 +V.sub.R /2.sup.i which are compared with a voltage sample V.sub.x to be coded in order to determine by successive approximations the coefficients a.sub.0 . . . a.sub.n which are equal to 0 or to 1 such that V.sub.x =a.sub.0 .multidot.V.sub.R +a.sub.1 .multidot.V.sub.R /2+ . . . +a.sub.n .multidot.V.sub.R /2.sup.n. Depending on the value of a.sub.i, each quantity of charges Q.sub.R /2.sup.i stored beneath gate G.sub.1 is removed beneath diode D.sub.e or stored beneath gate G.sub.3 and then transferred beneath gate G.sub.4.
Abstract:
A monolithic integrable R-2R resistor network comprises a number of series resistors connected to a terminal resistor; and a plurality of 2R resistor units each capable of being switched by two electronic switches either to ground or to another reference point, a different plurality of 2R resistor units being coupled to the nodes between each of the series resistors, to the node between the terminal resistor and the last resistor of the series resistors and to the node ahead of the first resistor of the series resistors. To compensate for the effects of the variations of the switch resistances caused during manufacture by process parameter fluctuations upon the accuracy of a D/A converter, a switch structure is inserted at each of the nodes which, with respect to the two electronic switches, is of the same kind, and which is permanently in an electrically conducting state. Preferably, there are used insulated-gate field-effect transistors and insulated-gate field-effect transistor structures, the identical electrodes of which, for example, the source electrodes, are directly connected to each of the nodes.
Abstract:
A plurality of metal resistance elements and a metal resistance element for compensation use are formed on a common substrate and placed under the same temperature condition. A reference current is applied to the metal resistance element for compensation use to yield an auxiliary reference voltage. A plurality of switches are individually connected in series to the reference metal resistance elements and the auxiliary reference voltage is provided to the series circuits to selectively control the switches, thereby obtaining various currents.
Abstract:
A multi-stage resistive ladder network which uses extra stages to trim out resistance discrepencies. All of the stages are interconnected in a series. Nominally, current is divided in half within each stage. Half of the current is gated onto a bus in response to logic control signals, and the other half of the current is passed onto the next succeeding stage. Due to various processing limitations, the resistors comprising each stage vary slightly from their nominal value, which in turn upsets the current division. To compensate for this additional current dividing stages are serially connected to the last stage of the ladder. Current from these additional stages are selectively coupled onto the bus in response to the logic signals in addition to the current which is normally coupled thereto.
Abstract:
PURPOSE: An A/D converter is provided to improve the distortion of a signal by using a transmission gate switch and reducing an offset voltage. CONSTITUTION: A reference voltage generating part(10) respectively outputs a plurality of reference voltage signals which are generated at a resistor string with a plurality of resistor. A plurality of transmission gate switches(40) receives each reference voltage signal from the reference voltage generating part. The transmission gate switch maintains the state of the reference voltage signal without the offset voltage change. A plurality of comparators(20) respectively outputs 0 or 1 by comparing the input signal of the unit pixel and a reference voltage signal. An encoding unit(30) outputs the digital signal of N bit by encoding the output from the comparator.
Abstract:
주파수 특성을 보상하기 위한 보상용 콘덴서의 용량을 줄여 보상용 콘덴서의 면적을 줄이고, 12비트 이상의 고해상도를 가지는 신호를 왜곡됨이 없이 처리하는 MDAC(Multiplying Digital to analog converter)를 제공한다. SHA(Sampling and Holding Amplifier) 또는 MDAC로부터 입력되는 신호에서 플래쉬 ADC(Analog to digital converter)가 디지털 신호로 변환한 레벨을 감산하는 감산기와, 제 1 바이어스 전압에 따라 정전류가 흐르는 제 1 및 제 2 정전류원과, 상기 제 1 정전류원으로 정전류가 흐르면서 상기 감산기의 출력신호를 캐스코드 증폭하는 제 1 증폭기와, 상기 제 1 증폭기의 증폭이득을 부스팅하여 증가시키는 제 1 및 제 2 부스팅용 증폭기와, 상기 제 2 정전류원으로 정전류가 흐르면서 상기 제 1 증폭기의 증폭신호를 차동 증폭하여 출력단자로 출력하는 제 2 증폭기와, 상기 제 1 및 제 2 증폭기의 사이에 구비되는 제 1 및 제 2 보상용 콘덴서로 이루어지는 것으로 제 1 및 제 2 보상용 콘덴서가 차지하는 면적 및 소모전력을 줄이고, 고해상도의 신호를 왜곡이 발생됨이 없이 처리한다. MDAC, ADC, 파이프라인 ADC, 보상용 콘덴서, DCL, 감산기, 부스팅용 증폭기
Abstract:
PURPOSE: An analog-digital converter for providing a reference voltage by using analog memories instead of serial resistors is provided to reduce the size and the power consumption by using the analog memories instead of the serial resistors. CONSTITUTION: An analog-digital converter includes a plurality of analog memories, a plurality of comparators, and a decoder. The analog memories(M1-Mn) are composed of injectors and transistors in order to provide predetermined voltages. The comparators(comp1-compn) are used for receiving external signals and a reference voltage from one of analog memories and comparing the external signals with the reference voltage. The decoder(211) is used for outputting a digital signal by combining output signals of the comparators.
Abstract:
본 발명은 샘플 및 홀더부에 구비된 스위치의 제어신호를 아날로그 입력신호에 종속되게 구성하여 애퍼처 불확정도를 줄이고, 3-스테이지 비교기를 통해 순차적으로 리셋 스위치를 오프시켜 클럭 피드스루를 줄인 SAR 아날로그-디지털 변환기를 제공하기 위한 것으로, 이를 위해 본 발명은 SAR(Successive Approximation Resister) 아날로그-디지털 변환기에 있어서, 제어신호에 응답하여 아날로그 입력 신호를 샘플링하여 홀딩하되, 상기 아날로그 입력신호에 응답하여 상기 아날로그 입력신호를 상기 비교 수단으로 스위칭하여 애퍼처 불확정도를 줄이는 샘플 및 홀더 회로부; 상기 아날로그 입력 신호를 디지털 신호로 변환시키기 위한 기준값이 되는 디지털 신호를 아날로그 신호로 변환하는 디지털-아날로그 변환 수단; 제1 내지 제3 리셋 신호에 응답하여 각 스테이지를 순차적으로 오프시키면서 상기 샘플 및 홀더 회로부로부터 출력되는 아날로그 입력 신호와 상기 디지털-아날로그 변환 수단으로부터 출력되는 기준 아날로그 신호를 비교하는 3-스테이지 비교 수단; 및 SAR 레지스터를 포함하여 상기 3-스테이지 비교 수단으로부터 출력되는 비교결과에 응답하여 기준값이 되는 디지털 신호를 제어하는 제어로직 수단을 포함한다.
Abstract:
본 발명에 따른 디지털 아날로그 변환기의 고속화장치에는, 디지털신호와 아날로그신호를 서로 변환시키기 위하여 적어도 두 개의 스위칭부가 포함되는 디지털 아날로그 변환기; 및 상기 스위칭부의 저항을 조정하는 캘리브레이션부가 포함되고, 상기 캘리브레이션부에는, 상기 스위칭부와 유사한 제 1 스위치 및 제 2 스위치; 상기 제 1 스위치 및 상기 제 2 스위치의 저항을 비교하는 비교기; 및 상기 비교기의 결과값을 증폭하여 출력하는 증폭기가 포함되고, 상기 증폭기의 출력값은 상기 적어도 두 개의 스위칭부로 각각 입력되어 상기 적어도 두 개의 스위칭부의 저항값을 조정한다. 본 발명에 따르면, 디지털 아나로그 변환기를 고속으로 동작시킬 수 있는 효과를 기대할 수 있다.