Abstract:
PURPOSE: A successive approximation analog-digital converter is provided to have very strong feature to process change, by performing an analog-digital conversion operation by comprising a minimum number of capacitors. CONSTITUTION: A reference current supply part(210) supplies a reference current. A signal storage part(220) stores a reference signal and an input signal. The reference signal is generated by charging the reference current. The input signal is inputted from the outside. A comparison part(230) compares the reference signal with the input signal. A control part(240) generates a digital output signal. The control part controls the reference current supply part. The amount of the reference current supplied to the signal storage part is changed in proportion to a binary code.
Abstract:
PURPOSE: A method and circuit for internally testing a digital to analog converter are provided to use a ramp signal with a plus value at a starting clock, thereby reducing a reference value. CONSTITUTION: A ramp signal generator(320) generates a ramp signal with a plus value at a starting clock. A counter(330) generates a first input signal. A digital to analog converter converts a first input signal into a first output signal. A differential amplifier(360) obtains a test value corresponding to the difference between the ramp signal and the first output signal. A ramp signal generator, the counter, and the differential amplifier are installed in the digital to analog converter.
Abstract:
PURPOSE: A method for calibrating the gain and offset of an analog/digital converter is provided to correct input and output data by correcting the gain and offset of the analog/digital converter. CONSTITUTION: A plurality of preset signals are transmitted from a signal source(10) to a data collecting device(20) and a data operating device(30). The data collecting device transmits the processed signal to the data operating device by processing the preset signal. The preset signal transmitted from the signal source is stored in the data operating device. The gain and offset of the analog/digital converter is operated by comparing the preset signal with the transmitted signal. The gain and offset is transmitted to the data collecting device. The gain and offset of the analog/digital converter is changed into the gain and offset operated by the data operating device.
Abstract:
PURPOSE: A device and a method for calibrating the deformation of the input signal of each channel during the analog-digital conversion process of a digital signal processor and a micro controller are provided to correct the input signal by inputting reference voltages which are different for each channel and calculating a gain calibration value and an offset calibration value based on an output voltage. CONSTITUTION: A plurality of switches(100) is prepared as the number of channels of analog digital converters. Input signal to be analog-digital converted or different two reference voltage are transferred to an analog-digital converter(ADC) by the switches. A signal compensator(300) controls the operation of switches. Based on the output voltage of the ADC with respect to the two different reference voltages, a gain calibration value and an offset calibration value for each channel are calculated.
Abstract:
An extended counting incremental sigma-delta analog-to-digital converter is provided to improve conversion speed by performing two-step operations of determining MSB(Most Significant Bit) and LSB(Least Significant Bit) independently. A first incremental sigma-delta A/D(analog/Digital) converter outputs an MSB(Most Significant Bit) signal of a digital-converted signal by calculating a first analog input signal from the first analog input signal. A second incremental sigma-delta A/D converter outputs an LSB signal of a digital-converted signal by calculating the first analog input signal by receiving an integration voltage in the first incremental sigma-delta A/D converter.
Abstract:
A dynamic linearization digital-to-analog converter is provided to obtain high dynamic linearity by dynamically compensating deterioration of linearity due to mismatch caused by spatial arrangement of unit current sources. A dynamic linearization digital-to-analog converter includes a decoder(12), a current switch driver(14), and a random selecting switch(13). The decoder(12) selects a current source(15) from a digital input. The current switch driver(14) drives a current switch of the current source(15). The random selecting switch(13) is located between the decoder(12) and the current switch driver(14), and resets connection between an output of the decoder(12) and an input of the current switch driver(14) randomly every clock.
Abstract:
본 발명은 센서에 의해 측정된 물리적 신호의 크기를 원하는 측정값으로 매핑하는 방법에 있어서 물리적 신호의 크기를 디지털 값으로 변환하는 아날로그 디지털 컨버터의 게인 편차에 의한 에러를 보상하는 캘리브레이션 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 ADC의 캘리브레이션 방법은 ADC를 게인의 크기에 따라 표준의 게인을 가지는 표준 게인 그룹, 표준보다 높은 게인을 가지는 하이 게인 그룹, 그리고 표준보다 낮은 게인을 가지는 로우 게인 그룹들로 분류하는 과정; 상기 분류된 그룹들 각각에 상당하는 변환식들을 설정하는 과정; ADC에 의해 아날로그값을 디지털 값으로 변환하고, 디지털 변환된 값을 ADC가 속한 그룹에 해당하는 변환식에 의해 원하는 측정값으로 매핑하는 과정; 및 매핑된 측정값을 상기 ADC가 속한 그룹을 참조하여 캘리브레이션하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따른 ADC의 캘리브레이션 방법은 ADC의 게인 편차에 의한 측정값의 오류를 보상함으로써 정확한 측정값을 얻게 하는 효과를 가진다.
Abstract:
본 발명은 시그마-델터 방식 아날로그-디지털 변환기의 BIST 및 BISC 장치에 관한 것으로서, 시그마-델타 모듈레이터(23)에서 변환된 신호가 디지털필터(25)로 입력되기 전에 직접적으로 테스트 및 조정(test & calibration)을 행한다. 본 발명에 따르면, 소정의 파형을 생성하여 파형신호로써 출력하는 파형 발생기; 상기 파형 발생기에서 출력되는 파형신호를 PCM방식으로 변환하는 시그마-델타 모듈레이터; 상기 변환된 PCM 신호를 사전에 저장되어 있는 정상 파형과 비교하고 분석하는 비교기와, 비교기에서 출력되는 신호를 정상 파형에 매핑한 디코딩 정보를 저장하는 수단과, 이 매핑된 디코딩정보를 참고하여 상기 비교기에서 출력되는 신호를 이진수 데시멀 값으로 변환시키는 프로그램가능한 디코더로 구성되는 프로그램가능한 디지털필터를 포함한다. 상기 파형 발생기는 적어도 두 개의 파형신호를 발생하고, 상기 프로그램가능한 디코더는 제1의 파형신호에 의해 최초에 한번 프로그램되고 나서, 이후의 후속 파형신호가 입력되는 동안 이를 이진수 데시멀값으로 변환시키며, 적절하게 아날로그에서 디지털로 변환된 파형신호 중 하나를 다시 상기 비교기로 피드백하는 것을 특징으로 한다.