반도체 발광 소자의 광특성 측정 장치
    2.
    发明公开
    반도체 발광 소자의 광특성 측정 장치 有权
    LED的光特性的测量装置

    公开(公告)号:KR1020140081096A

    公开(公告)日:2014-07-01

    申请号:KR1020120150465

    申请日:2012-12-21

    Inventor: 최영수 박경호

    Abstract: The present invention relates to an apparatus for measuring optical characteristics of a semiconductor light emitting device, comprising a hollow cylindrical rotary body, an optical characteristics measuring unit installed within the body and measuring optical characteristics of a semiconductor light emitting device, a measurement stage leading the semiconductor light emitting device to a position of the optical characteristics measuring unit through a central portion of the body and leading out therefrom, and a support coupled to a lower portion of the body to support the body. Optical characteristics of a semiconductor light emitting device can be easily measured intermittently or continuously by using 360-degree rotatable optical characteristics measuring unit, regardless of wafer size, and optical characteristics of various types of LEDs can be measured.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于测量半导体发光器件的光学特性的装置,包括中空圆柱形旋转体,安装在体内的光学特性测量单元和测量半导体发光器件的光学特性,测量台引导 半导体发光器件通过本体的中心部分从光学特性测量单元的位置引出,并且与主体的下部相连以支撑身体。 可以通过使用360度旋转光学特性测量单元间歇地或连续地测量半导体发光器件的光学特性,而不管晶片尺寸如何,并且可以测量各种类型的LED的光学特性。

    경사면의 반사광을 활용하는 집광형 태양전지 모듈 및 모듈 집합체
    4.
    发明公开
    경사면의 반사광을 활용하는 집광형 태양전지 모듈 및 모듈 집합체 有权
    光收敛光伏模块和模块组件利用反射光

    公开(公告)号:KR1020150077849A

    公开(公告)日:2015-07-08

    申请号:KR1020130166739

    申请日:2013-12-30

    CPC classification number: Y02E10/52

    Abstract: 본발명의일 측면에의하면, 경사진형태의비아홀을포함하는 PCB; 상기비아홀의바닥면에부착된광소자;및상기광소자와상기 PCB를연결하는와이어본딩; 을포함하는것을특징으로하는경사면의반사광을활용하는집광형광소자모듈을제공한다. 이상에서살펴본본 발명에의하면, PCB에구비된경사진형태의비아홀바닥에광소자를구비하고경사면에금속을도금함으로써, 광소자에빛이모아져서발전효율이높아지는효과가있다.

    Abstract translation: 根据本发明的一个方面,提供了一种使用斜率反射光的聚光光伏模块,包括:包括倾斜通孔的PCB; 安装在通孔槽的地板上的光学装置; 以及用于连接光学装置和PCB的引线接合。 根据本发明,光学装置设置在形成在PCB上的倾斜通孔的底板上,并且金属被镀在斜面上,使得光聚集在光学装置中并且产生效率增加。

    반도체 발광 소자의 광특성 측정 장치
    5.
    发明授权
    반도체 발광 소자의 광특성 측정 장치 有权
    LED的光特性测量装置

    公开(公告)号:KR101419522B1

    公开(公告)日:2014-07-14

    申请号:KR1020120150465

    申请日:2012-12-21

    Inventor: 최영수 박경호

    Abstract: 본 발명은 반도체 발광 소자의 광특성을 측정하기 위한 장치에 관한 것으로서, 반도체 발광 소자의 광특성을 측정하는 장치에 있어서, 내부가 빈 원통형으로 형성되어 회전하는 본체와, 상기 본체 내부에 장착되어 반도체 발광 소자의 광특성을 측정하는 광특성측정부와, 상기 본체의 중심부로 상기 광특성측정부 위치까지 상기 반도체 발광 소자를 인입 및 인출시키는 측정스테이지 및 상기 본체 하부에 결합되어 상기 본체를 지지하는 지지대를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체 발광 소자의 광특성 측정 장치를 기술적 요지로 한다. 360° 회전가능한 광특성측정부를 이용하여 웨이퍼의 크기에 상관없이 반도체 발광 소자의 단속적 또는 연속적인 광특성 측정이 용이하며, 다양한 종류의 발광다이오드의 광특성 측정이 가능한 효과가 있다.

    발광다이오드의 신뢰성 평가 장치
    6.
    发明授权
    발광다이오드의 신뢰성 평가 장치 有权
    发光二极管的可靠性测量装置

    公开(公告)号:KR101335604B1

    公开(公告)日:2013-12-02

    申请号:KR1020120032317

    申请日:2012-03-29

    Abstract: 본 발명은 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 신뢰성 평가 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 구역과 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 구역을 분리하여, 발광다이오드의 가열 또는 냉각 전·후 특성 측정 조건을 동일하게 유지하여, 발광다이오드의 특성을 정확하게 측정하는 발광다이오드 특성 신뢰성 장치에 관한 것으로, 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 온도특성을 측정하기 위해 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 챔버, 챔버 외부에 구비되고, 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 측정부, 발광다이오드를 측정부에서 챔버로 또는 챔버에서 측정부로 이동시키는 스테이지, 스테이지에 구비된 발광다이오드에 전원을 공급하는 전원 공급부, 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 저장하는 데이터 저장부, 챔버, 측정부, 스테이지 또는 전원 공급부를 제어하고, 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 데이터 저장부에 저장하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

    진공증착에 의한 하이브리드 패턴 형성방법, 이를 이용한 센서 소자의 제조방법 및 이에 의해 제조된 센서 소자
    7.
    发明公开
    진공증착에 의한 하이브리드 패턴 형성방법, 이를 이용한 센서 소자의 제조방법 및 이에 의해 제조된 센서 소자 有权
    通过真空沉积的混合图案形成方法,使用该方法制造传感器元件的方法以及通过该方法制造的传感器元件

    公开(公告)号:KR1020180012387A

    公开(公告)日:2018-02-06

    申请号:KR1020160095040

    申请日:2016-07-26

    Abstract: 본발명은진공증착공정을이용하여금속나노구조체패턴을형성하기위한것으로서, 기재상부의일부영역을노출시키는마스크패턴층을형성하는제1단계와, 상기기재의노출된영역및 상기마스크패턴층상부에금속나노구조체의성장을위해필요한금속나노구조체의최소임계반지름을만족하는진공증착조건을설정하는제2단계와, 진공증착공정에의해상기기재의노출된영역및 상기마스크패턴층상부에금속나노구조체를성장시키는제3단계와, 상기마스크패턴층을제거하여, 상기기재의노출된영역에금속나노구조체를형성하여상기기재상부에금속나노구조체패턴을형성하는제4단계및 상기금속나노구조체를이용하여상기기재의일부영역을습식식각하여하이브리드패턴을형성하는제5단계를포함하여이루어지는것을특징으로하는진공증착에의한하이브리드패턴형성방법을기술적요지로한다. 이에의해본 발명은금속나노구조체의성장을위해필요한금속나노구조체의최소임계반지름을만족하는진공증착조건을설정하여진공증착공정을이용하여기재상부에금속나노구조체패턴을형성하고이를이용하여기재를습식식각하여기재의일부영역에하이브리드패턴을제공하고자하는것이다.

    Abstract translation: 本发明提供一种使用真空沉积工艺形成金属纳米结构图案的方法,所述方法包括:第一步骤,形成暴露所述衬底的部分上表面的掩模图案层; 金属纳米第二步骤来设置真空沉积条件满足用于该结构的生长所需的金属纳米结构的最小临界半径,并在区域中的金属通过真空沉积工艺和衬底纳米的掩膜图案层上曝光 生长结构中,通过去除掩模图案层的第三步骤,第四步骤和所述金属纳米结构,以形成在所述衬底的曝光区域的金属纳米结构,以形成在衬底顶部上的金属纳米结构图案 以及第五步骤,通过使用真空气相沉积方法湿法蚀刻部分基材来形成混合图案。 而作为一个技术基础。 这种做发明是基材使用真空沉积工艺来设置真空沉积条件满足对金属纳米结构的生长所需要的金属纳米结构的最小临界半径,以形成金属纳米结构图案,以在基底顶部,并使用此 湿法蚀刻以在衬底的一部分中提供混合图案。

    발광다이오드의 신뢰성 평가 장치
    8.
    发明公开
    발광다이오드의 신뢰성 평가 장치 有权
    用于发光二极管的可靠性测量装置

    公开(公告)号:KR1020130110387A

    公开(公告)日:2013-10-10

    申请号:KR1020120032317

    申请日:2012-03-29

    Abstract: PURPOSE: A device for evaluating the reliability of a light emitting diode is provided to reduce errors of characteristic data of the light emitting diode and to prevent the characteristic transformation of a light receiving module. CONSTITUTION: A chamber (200) heats or cools a light emitting diode for measuring a temperature characteristic of a light emitting diode. A measurement unit (300) is included in the outside of the chamber and measures an optical or electrical characteristic of the light emitting diode. A stage (400) moves the light emitting diode from the measurement unit to a chamber or from the chamber to the measurement unit. A power supply unit (500) supplies power to the light emitting diode. A data storage unit (600) stores optical or electrical data measured in the measurement unit. A control unit (700) controls the chamber, the measurement unit, the stage, or the power supply unit and stores the optical or electrical data in the data storage unit. [Reference numerals] (210,220) Heater or cooler; (230) Temperature measuring unit; (310) Light receiving transferring device; (320) Light receiving module; (330) Spectrometer; (400) Stage; (500) Power supply unit; (600) Storage unit; (700) Control unit

    Abstract translation: 目的:提供一种用于评估发光二极管的可靠性的装置,以减少发光二极管的特性数据的误差,并防止光接收模块的特征变换。 构成:室(200)加热或冷却用于测量发光二极管的温度特性的发光二极管。 测量单元(300)包括在室的外部,并且测量发光二极管的光学或电学特性。 舞台(400)将发光二极管从测量单元移动到室或从腔室移动到测量单元。 电源单元(500)向发光二极管供电。 数据存储单元(600)存储在测量单元中测量的光或电数据。 控制单元(700)控制室,测量单元,平台或电源单元,并将光或电数据存储在数据存储单元中。 (参考编号)(210,220)加热器或冷却器; (230)温度测量单元; (310)光接收传送装置; (320)光接收模块; (330)光谱仪; (400)舞台; (500)电源单元; (600)存储单元; (700)控制单元

    온도 검출부를 포함하는 태양전지 모듈 및 시스템
    10.
    发明公开
    온도 검출부를 포함하는 태양전지 모듈 및 시스템 审中-实审
    一种包括温度检测单元的太阳能电池模块和系统

    公开(公告)号:KR1020170073007A

    公开(公告)日:2017-06-28

    申请号:KR1020150181162

    申请日:2015-12-17

    CPC classification number: Y02E10/50

    Abstract: 본발명은온도검출부를포함하는태양전지모듈및 시스템에관한것으로서, 복수의태양전지셀 어레이, 상기태양전지셀 어레이에각각연결되어, 각각연결된태양전지셀 어레이를바이패스시킬수 있는복수의셀 바이패스소자, 및상기셀 바이패스소자에각각연결된복수의온도검출부를포함하되, 상기온도검출부는하나이상의태양전지셀에대한온도를감지하고, 감지된온도가미리설정된범위를벗어나는경우, 상기셀 바이패스소자를구동시키는것을특징으로한다. 본발명에따르면, 온도감지를통해바이패스소자를구동시킴으로써, 태양전지모듈의효율을높이고, 안정적으로태양전지시스템을운용할수 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种太阳能电池模块和包括温度检测器,多个太阳能电池阵列,其中所述太阳能电池被连接到单元阵列的系统中,每个所述多个小区中的连接的太阳能电池阵列旁路sikilsu绕过 元件,并包括:多个温度检测器,每个耦合至所述电池旁路设备中,当温度检测器检测到一个或更多个太阳能电池的温度,并且检测到的温度在预设范围外,则电池旁通 从而驱动设备。 根据本发明,通过经由温度检测驱动所述旁路元件,以提高太阳能电池模块的效率,就可以可靠地操作该太阳能电池系统。

Patent Agency Ranking