Abstract:
본 발명은 집광형 태양광 발전 방법 및 시스템에 관한 것으로서, 상기 방법은 태양 추적 방식에 따라 태양의 황도를 계산하여 태양전지판을 조정하는 단계, 상기 태양전지판을 구성하는 하나 이상의 단위 모듈에서 태양광을 집광하는 단계,단위 모듈에 장착된 온도 센서를 이용하여, 온도 분포를 측정하는 단계 및 측정한 온도 분포 결과에 따라 하나 이상의 단위 모듈을 보정하는 단계를 포함한다.
Abstract:
The present invention relates to an apparatus for measuring optical characteristics of a semiconductor light emitting device, comprising a hollow cylindrical rotary body, an optical characteristics measuring unit installed within the body and measuring optical characteristics of a semiconductor light emitting device, a measurement stage leading the semiconductor light emitting device to a position of the optical characteristics measuring unit through a central portion of the body and leading out therefrom, and a support coupled to a lower portion of the body to support the body. Optical characteristics of a semiconductor light emitting device can be easily measured intermittently or continuously by using 360-degree rotatable optical characteristics measuring unit, regardless of wafer size, and optical characteristics of various types of LEDs can be measured.
Abstract:
본 발명은 반도체 발광 소자의 광특성을 측정하기 위한 장치에 관한 것으로서, 반도체 발광 소자의 광특성을 측정하는 장치에 있어서, 내부가 빈 원통형으로 형성되어 회전하는 본체와, 상기 본체 내부에 장착되어 반도체 발광 소자의 광특성을 측정하는 광특성측정부와, 상기 본체의 중심부로 상기 광특성측정부 위치까지 상기 반도체 발광 소자를 인입 및 인출시키는 측정스테이지 및 상기 본체 하부에 결합되어 상기 본체를 지지하는 지지대를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체 발광 소자의 광특성 측정 장치를 기술적 요지로 한다. 360° 회전가능한 광특성측정부를 이용하여 웨이퍼의 크기에 상관없이 반도체 발광 소자의 단속적 또는 연속적인 광특성 측정이 용이하며, 다양한 종류의 발광다이오드의 광특성 측정이 가능한 효과가 있다.
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본 발명은 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 신뢰성 평가 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 구역과 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 구역을 분리하여, 발광다이오드의 가열 또는 냉각 전·후 특성 측정 조건을 동일하게 유지하여, 발광다이오드의 특성을 정확하게 측정하는 발광다이오드 특성 신뢰성 장치에 관한 것으로, 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 온도특성을 측정하기 위해 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 챔버, 챔버 외부에 구비되고, 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 측정부, 발광다이오드를 측정부에서 챔버로 또는 챔버에서 측정부로 이동시키는 스테이지, 스테이지에 구비된 발광다이오드에 전원을 공급하는 전원 공급부, 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 저장하는 데이터 저장부, 챔버, 측정부, 스테이지 또는 전원 공급부를 제어하고, 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 데이터 저장부에 저장하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Abstract:
PURPOSE: A device for evaluating the reliability of a light emitting diode is provided to reduce errors of characteristic data of the light emitting diode and to prevent the characteristic transformation of a light receiving module. CONSTITUTION: A chamber (200) heats or cools a light emitting diode for measuring a temperature characteristic of a light emitting diode. A measurement unit (300) is included in the outside of the chamber and measures an optical or electrical characteristic of the light emitting diode. A stage (400) moves the light emitting diode from the measurement unit to a chamber or from the chamber to the measurement unit. A power supply unit (500) supplies power to the light emitting diode. A data storage unit (600) stores optical or electrical data measured in the measurement unit. A control unit (700) controls the chamber, the measurement unit, the stage, or the power supply unit and stores the optical or electrical data in the data storage unit. [Reference numerals] (210,220) Heater or cooler; (230) Temperature measuring unit; (310) Light receiving transferring device; (320) Light receiving module; (330) Spectrometer; (400) Stage; (500) Power supply unit; (600) Storage unit; (700) Control unit