Abstract:
A method for manufacturing a ZrO thin film is provided to prevent carbon contamination and to restrain the generation of a silicon oxide layer by using Zr alone without an additional supply of oxygen source. A ZrO thin film is formed by performing an MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition) using Zr compound as a precursor material. The predetermined Zr compound is represented by a predetermined chemical formula. The predetermined Zr compound is used for forming the ZrO thin film without an additional oxygen source. The predetermined Zr compound is kept in a predetermined temperature range of room temperature to 90 ‹C.
Abstract:
본 발명은 하기 화학식 1의 니켈 아미노알콕사이드 선구 물질을 니켈의 원료 화합물로 사용하여 원자층 침착법 (atomic layer deposition, ALD)으로 니켈 산화물 박막을 제조하는 방법에 관한 것으로, 본 발명의 방법에 따르면 기존의 원자층 침착법에 비해 더 온화한 공정 조건에서 품질이 좋은 니켈 산화물 박막을 얻을 수 있다.
상기 식에서, m은 1 내지 3 범위의 정수고, R 1 , R 2 , R 3 및 R 4 는 각각 독립적으로 C 1 -C 4 선형 또는 분지형 알킬기다.
Abstract:
본 발명은 니켈 산화물 박막을 원자층 침착법으로 제조하여 차세대 비휘발성 메모리 소자인 RRAM의 니켈 산화막 층을 형성하는 방법에 관한 것으로, 본 발명의 방법에 따르면 기존의 물리적 침착 방법으로 제조하는 니켈 산화물 박막에 비하여 우수한 박막 특성과 저항 전환(resistance switching) 현상을 보이는 품질이 좋은 니켈 산화물 박막을 얻을 수 있어 이를 RRAM 소자로 잘 응용할 수 있다. 니켈 산화막, RRAM, 원자층 침착법
Abstract:
본 발명은 하기 화학식 1의 티타늄 산화물 선구 물질 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따라 합성하는 티타늄 산화물 선구 물질은 열적으로 안정하고 휘발성이 개선되어 티타늄 산화물 박막 제조에 유리하게 사용할 수 있다.
상기 식에서, 2개의 R은 서로 독립적으로 C 1 -C 4 의 선형 또는 분지형 알킬기이고, 2개의 R'은 서로 독립적으로 C 1 -C 4 의 선형 또는 분지형 알킬기 또는 CR" 2 CH 2 NR * 2 (여기에서, R" 및 R * 는 C 1 -C 4 의 선형 또는 분지형 알킬기이다) 이다.
Abstract:
본 발명은 구리 및 니켈 금속 나노 입자를 제조하는 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따르면 자체 열분해가 가능한 아미노알콕시 금속 착화합물을 선구 물질로 사용하여, 외부로부터 환원제를 넣지 않고, 녹는점이 낮고 비등점이 높으며 배위 가능한 원소를 포함하는 덮개 리간드를 이용하여, 금속 입자의 크기 및 형상을 제어할 수 있다.
Abstract:
본 발명은 하기 화학식 1로 표시한 탄탈럼 질화물 선구 물질과 이의 제조 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 탄탈럼 질화물 선구 물질은 열적으로 안정하고 휘발성이 높아 양질의 탄탈럼 질화물 박막을 제조하는 데 유리하게 이용할 수 있다.
RN=Ta(NR' 2 ) n (OCR" 2 CH 2 NR * 2 ) 3-n 상기 식에서, R은 이소프로필기거나 t-부틸기고, R'은 메틸, 에틸, 이소프로필, t-부틸 또는 알킬실릴 기고, R"은 C 1 -C 4 선형 또는 분지형 알킬기고, R * 는 C 1 -C 4 선형 또는 분지형 알킬 또는 알킬실릴 기고, n은 0, 1 또는 2다.
Abstract:
본 발명은 기질 위에 수산화 기 단층을 형성하는 방법에 관한 것으로서, 반도체 또는 금속 표면에 할로겐 원소를 흡착시킨 후 물을 이용하여 수산화 기 단층을 형성하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, 반도체 또는 금속 표면에 수산화 기 단층을 형성할 수 있고, 박막 침착 공정에서 별도로 반도체 또는 금속 표면에 산화막을 형성할 필요가 없으며 특히 원자층 침착법 (atomic layer deposition, ALD) 공정 초기의 부화 기간 (incubation period)을 줄일 수 있는 장점이 있다. 본 발명에 따른 수산화 기 단층을 형성한 반도체 및 금속의 표면은 표면 과학의 새로운 연구 대상이 될 수 있고 또한 이들을 기질로 하여 분자 단층 (molecular monolayer)을 입힐 수 있다.
Abstract:
Volatile nickel aminoalkoxide complexes, a preparation method thereof and a process for formation of a nickel thin film by using the same compounds are provided, which compounds have high volatility and sufficient thermal stability, and are reduced to nickel by self-pyrolysis without a reducing agent. so that the compounds are useful as a MOCVD(metal organic chemical vapor deposition) precursor for formation of the nickel thin film. The volatile nickel aminoalkoxide complexes represented by formula (1) are provided, wherein m is an integer of 1 to 3; and R and R' are C1-C4 linear or branched alkyl. The volatile nickel aminoalkoxide complexes represented by formula (2) are provided, wherein m is an integer of 1 to 3; n is an integer of 2 to 4; and R and R' are C1-C4 linear or branched alkyl. The method for preparing the volatile nickel aminoalkoxide complexes of formula (1) or (2) comprises a halogenized hexamine nickel compound of Ni(NH3)6X2 with an alkali metal salt of aminoalkoxide of MOCR'2(CH2)mNR2 or MOCR'2(CH2)mO(CH2)nNR2, wherein X is Cl, Br or I; and M is Li or Na. The process for formation of the nickel thin film comprises growing the nickel thin film by using the volatile nickel aminoalkoxide complexes of formula (1) or (2) as a precursor at 250 to 350 deg. C.
Abstract:
PURPOSE: To provide a method for preparing stoichiometric barium strontium titanate thin films of high quality by direct liquid injection metal organic chemical vapor deposition under the milder conditions using organic complexes of Ba, Sr and Ti that are capable of being vaporized together as raw materials for mixing since they have similar thermal stability, decomposition characteristics and solubility. CONSTITUTION: In a method for preparing barium strontium titanate(BaxSr1-xTiO3) thin films by direct liquid injection metal organic chemical vapor deposition, the method is characterized in that a mixture of Ba(th)2(tmeea), Sr(thd)2(tmeea) and Ti(thd)2(O¬i Pr)2 $ûthd=2,2,6,6-tetramethylheptanedionate, tmeea=tris£2-(2-methoxyethoxy)ethyl|amine, O¬i Pr=isoproxy$ý is used as raw materials of barium, strontium and titanium, wherein the method comprises the steps of: dissolving the raw materials of barium, strontium and titanium into an organic solvent; transferring the solution to an instantaneous vaporizer heated to a temperature of 200 to 250 deg.C so that the solution is vaporized; and injecting the vaporized solution into a deposition container having pressure of 0.5 to 2.0 torr so that the vaporized solution is deposited on a matrix heated to a temperature of 300 to 500 deg.C, wherein the method further comprises a step of heat treating the deposited matrix in a temperature range of 600 to 800 deg.C, and wherein the raw materials of barium, strontium and titanium are mixed in a ratio of 1 ¢¦ 2:1:5 ¢¦ 10.
Abstract:
A nanoparticle of a metal oxide is prepared by pyrolyzing a compound of formula (I) in a solvent:RMOR' (I) wherein M is beryllium, zinc, magnesium or cadmium; and R and R' are independently a C1-5 alkyl group.