Abstract:
탑재대에 탑재된 피처리 기판을 복수의 영역으로 나누고, 각 영역에서의 탑재대와 기판간의 열의 수수량을 바꾸어, 영역마다 기판의 온도를 조절하는 수단을 제공한다. 피처리 기판을 영역별로 소정의 온도로 조절하기 위한 온도 계통별의 온도 조절부를 복수 구비한 탑재대와, 이 온도 조절부를 지나 온도 계통별로 유체가 순환해서 흐르는 순환 유로와, 순환 유체보다 높은 온도의 가열 유체가 흐르는 가열 유로와, 순환 유체보다 낮은 온도의 냉각 유체가 흐르는 냉각 유로를 마련하고, 탑재대의 근방에서 순환 유로와 가열 유로와 냉각 유로의 유체를 온도 계통별로 합류시키는 동시에, 상기 온도 조절부에 출력하는 유체의 각 유로로부터의 유량비를 조절하는 유량 조절 수단을 포함하는 합류부를 구비한 피처리 기판의 온도 조절 장치.
Abstract:
정전 척에 플러스 직류 전압을 인가함으로써, 발생하는 정전기력을 이용하여 웨이퍼를 정전 척상에 흡착시키는 한편, 처리실내에 처리 가스를 공급하면서 플라즈마를 발생시키고, 웨이퍼에 대해 플라즈마 처리를 시행한다. 처리를 한 웨이퍼를 정전 척상으로부터 떼어낸 후, 다음의 웨이퍼를 정전 척상에 흡착시키기 전에, 처리실 내에 질소 가스를 도입한 상태에서, 정전 척에 대해 마이너스의 직류 전압을 인가하여 직류 방전시킨다. 이에 의해, 기체속의 전하가 정전 척에 이끌려 정전 척의 표면이 플러스로 대전하고, 흡착 불량이 발생하지 않게 된다.
Abstract:
탑재대에 탑재된 피처리 기판을 복수의 영역으로 나누고, 각 영역에서의 탑재대와 기판간의 열의 수수량을 바꾸어, 영역마다 기판의 온도를 조절하는 수단을 제공한다. 피처리 기판을 영역별로 소정의 온도로 조절하기 위한 온도 계통별의 온도 조절부를 복수 구비한 탑재대와, 이 온도 조절부를 지나 온도 계통별로 유체가 순환해서 흐르는 순환 유로와, 순환 유체보다 높은 온도의 가열 유체가 흐르는 가열 유로와, 순환 유체보다 낮은 온도의 냉각 유체가 흐르는 냉각 유로를 마련하고, 탑재대의 근방에서 순환 유로와 가열 유로와 냉각 유로의 유체를 온도 계통별로 합류시키는 동시에, 상기 온도 조절부에 출력하는 유체의 각 유로로부터의 유량비를 조절하는 유량 조절 수단을 포함하는 합류부를 구비한 피처리 기판의 온도 조절 장치.
Abstract:
본 발명은 도전성 재료로 이루어지는 기대(2)와, 이 기대(2)상에 마련되어, 웨이퍼(W)가 탑재되는 유전체층(4) 및 이 유전체층(4)의 내부에 기대(2)와는 전기적으로 절연하여 마련된 전극(5)을 갖는 정전 흡착 부재(3)와, 전극(5)에 한쪽 단부가 접속된 제 1 배선(7)과, 제 1 배선 (7)의 다른쪽 단부에 접속된 직류 전원(8)과, 기대(2)에 한쪽 단부가 접속된 제 2 배선(10)과, 제 2 배선(10)의 다른쪽 단부에 접속된 고주파 전원(11)과, 제 1 배선(7)과 제 2 배선(10)을 접속하는 제 3 배선(14)과, 제 3 배선(14)상에 마련된 캐패시터(13)에 의해 하부 전극 구조(1)가 구성된다. 이 하부 전극 구조(1)가 챔버(21)내에 배치되어, 플라즈마 처리가 행해진다.
Abstract:
본 발명은 도전성 재료로 이루어지는 기대(2)와, 이 기대(2)상에 마련되어, 웨이퍼(W)가 탑재되는 유전체층(4) 및 이 유전체층(4)의 내부에 기대(2)와는 전기적으로 절연하여 마련된 전극(5)을 갖는 정전 흡착 부재(3)와, 전극(5)에 한쪽 단부가 접속된 제 1 배선(7)과, 제 1 배선 (7)의 다른쪽 단부에 접속된 직류 전원(8)과, 기대(2)에 한쪽 단부가 접속된 제 2 배선(10)과, 제 2 배선(10)의 다른쪽 단부에 접속된 고주파 전원(11)과, 제 1 배선(7)과 제 2 배선(10)을 접속하는 제 3 배선(14)과, 제 3 배선(14)상에 마련된 캐패시터(13)에 의해 하부 전극 구조(1)가 구성된다. 이 하부 전극 구조(1)가 챔버(21)내에 배치되어, 플라즈마 처리가 행해진다.
Abstract:
A mechanism for varying a cylinder stop position and a substrate processing apparatus including same are provided to remarkably reduce the generation of dust by decreasing the vibration caused by the elevation. A stopper(109) is fitted on a shaft(108). A pair of limiters(110a,110b) stop the movement of piston(107) by contacting with the stopper. A limiter transfer mechanism varies the limiter location. The cylinder is driven by the fluid pressure. The limiter transfer mechanism is prepared at a pair of limiter and independently control the position. The limiter transfer mechanism is controlled by the motor. The limiter transfer mechanism comprises a sensor(117) detecting the location of limiter. The limiter transfer mechanism comprises the sensor for detecting the location of stopper.
Abstract:
A substrate processing system and a substrate cleaning apparatus are provided to remove fully bevel polymers by injecting a cleaning material and a high-temperature gas. A process module(15) includes a chamber(38) for receiving a wafer(W), a stage(39) arranged at a bottom part within the chamber, a shower head(40) facing the stage, and exhaust hole(41) for exhausting gas of the chamber. The wafer is loaded on the stage. The shower head is arranged in a ceiling part of the chamber. The stage includes a plurality of pusher pins(42) and a plurality of cleaning agent injection holes(43). The cleaning agent injection holes are connected to a cleaning agent supply tube(45) through a cleaning agent vibration unit(44). The cleaning agent supply tube is connected to a cleaning agent supply unit through a pulse generator(47) including a heater(46) and a valve. The shower head includes a buffer chamber(48) connected to a down flow gas supply tube(49). The shower head is connected to the chamber through a plurality of through-holes(50).
Abstract:
A plasma processing apparatus comprises a chamber, and an upper electrode and a lower electrode, parallelly provided in the chamber to oppose each other at a predetermined interval, for defining a plasma generation region between the electrodes. An object to be processed is mounted on the lower electrode. RF powers are supplied to the electrodes, so that a plasma generates between the electrodes, thereby performing a plasma process with respect to the object to be processed. A cylindrical ground electrode is provided around the plasma generation region in the chamber, for enclosing the plasma in the plasma generation region, and has a plurality of through holes for passing a process gas.
Abstract:
재치대의 면내 전체의 설정 온도에 대하여 면내의 원하는 부위만을 국부적으로 설정 온도보다 높게 하거나 낮게 할 수 있도록 한다. 재치대(200) 내에 그 면내 전체에 걸쳐 형성한 주 유로(320)와, 재치대 내에 주 유로의 상측에 이간하여 재치대의 면내 일부에 형성한 보조 유로(330)와, 소정의 설정 온도로 조정한 온조 매체를 주 유로로 공급하여 순환시키고, 또한 그 온조 매체를 분류시켜, 또한 상기 설정 온도보다 높은 온도 또는 낮은 온도로 조정한 다음 보조 유로로 공급하여 순환시키는 온조 매체 순환 기구를 설치했다.