박막 트랜지스터, 박막 트랜지스터의 액티브층의 제조 방법 및 표시 장치
    11.
    发明授权
    박막 트랜지스터, 박막 트랜지스터의 액티브층의 제조 방법 및 표시 장치 有权
    薄膜晶体管,薄膜晶体管和显示器件的主动层的制造方法

    公开(公告)号:KR101041147B1

    公开(公告)日:2011-06-13

    申请号:KR1020100031962

    申请日:2010-04-07

    Abstract: PURPOSE: A thin film transistor including a multi crystal semiconductor layer, a method for manufacturing an active layer of the thin film transistor and a display device are provided to prevent the deterioration of a semiconductor property due to the concentration difference of metal catalyst by forming first and second multi crystal semiconductor layers with a third width by using the diffusion of the metal catalyst. CONSTITUTION: A buffer layer(120) is formed on a substrate(111). A first polycrystalline semiconductor layer(136) is formed on the buffer layer. A metal catalyst(125) is adjacent to the first polycrystalline semiconductor layer. A second polycrystalline semiconductor layer(137) is formed on the first polycrystalline semiconductor layer. The first and second polycrystalline semiconductor layers are crystallized through metal catalyst.

    Abstract translation: 目的:提供一种包括多晶半导体层的薄膜晶体管,制造薄膜晶体管的有源层的方法和显示装置,以防止由于金属催化剂的浓度差而导致的半导体特性劣化 以及通过使用金属催化剂的扩散而具有第三宽度的第二多晶半导体层。 构成:在衬底(111)上形成缓冲层(120)。 在缓冲层上形成第一多晶半导体层(136)。 金属催化剂(125)与第一多晶半导体层相邻。 在第一多晶半导体层上形成第二多晶半导体层(137)。 第一和第二多晶半导体层通过金属催化剂结晶。

    금속 포집기 및 이를 구비하는 원자층 증착 장치
    13.
    发明公开
    금속 포집기 및 이를 구비하는 원자층 증착 장치 无效
    具有金属接合装置和原子层沉积装置

    公开(公告)号:KR1020110019965A

    公开(公告)日:2011-03-02

    申请号:KR1020090077605

    申请日:2009-08-21

    CPC classification number: B01D8/00 C23C16/4412 C23C16/45544 Y02C20/30

    Abstract: PURPOSE: A metal intercepting device and an atomic layer deposition device with the same are provided to discharge a discharging gas discharged from a processing chamber to the outside without a scrubber, thereby saving costs for installing the scrubber. CONSTITUTION: An intercepting chamber(310) provides an intercepting space. An intercepting plate(320) is located on one side of the intercepting chamber. The intercepting plate includes a body attached or detached to or from the intercepting chamber and an intercepting finger(324) inserted into the intercepting chamber. A coolant source(330) supplies a coolant. An attaching/detaching unit attaches/detaches the intercepting chamber to/from the intercepting plate.

    Abstract translation: 目的:提供一种金属截留装置及其原子层沉积装置,以便将没有洗涤器的处理室排出的排放气体排出到外部,从而节省安装洗涤器的成本。 构成:拦截室(310)提供拦截空间。 拦截板(320)位于拦截室的一侧。 拦截板包括与拦截室连接或分离的主体以及插入拦截室的拦截手指(324)。 冷却剂源(330)供应冷却剂。 安装/拆卸单元将拦截室与拦截板相连/分离。

    원자층 증착 장비 및 이를 이용한 원자층 증착 방법
    16.
    发明公开
    원자층 증착 장비 및 이를 이용한 원자층 증착 방법 有权
    原子层沉积装置和使用其的原子层的制造方法

    公开(公告)号:KR1020100099917A

    公开(公告)日:2010-09-15

    申请号:KR1020090018490

    申请日:2009-03-04

    CPC classification number: C23C16/45544 C23C16/042 C30B25/165 C30B35/00

    Abstract: PURPOSE: An atomic layer deposition device and method for cooling a mask assembly are provided to effectively heat a substrate through a heating element of a substrate holder while preventing the thermal deformation of a mask assembly. CONSTITUTION: An atomic layer deposition device comprises a chamber(100), a vacuum pump(130), a gas supply unit(140), a substrate holder(110), a mask assembly, and a cooling source(150). The vacuum pump controls the internal pressure of the chamber. The gas supply unit supplies reaction gas into the chamber. The substrate holder is embedded with a heating element and located between the vacuum pump and the gas supply unit. The mask assembly with an internal cooling passage is located between the substrate holder and the gas supply unit. The cooling source supplies coolant to the cooling passage of the mask assembly.

    Abstract translation: 目的:提供用于冷却掩模组件的原子层沉积装置和方法,以有效地加热衬底通过衬底保持器的加热元件,同时防止掩模组件的热变形。 构成:原子层沉积装置包括腔室(100),真空泵(130),气体供应单元(140),衬底保持器(110),掩模组件和冷却源(150)。 真空泵控制室的内部压力。 气体供应单元将反应气体供应到室中。 衬底保持器嵌有加热元件,并位于真空泵和气体供应单元之间。 具有内部冷却通道的面罩组件位于衬底保持器和气体供应单元之间。 冷却源将冷却剂供应到面罩组件的冷却通道。

    가열 수단 및 이를 포함하는 기판 가공 장치
    17.
    发明授权
    가열 수단 및 이를 포함하는 기판 가공 장치 失效
    加热装置和具有该装置的基板处理装置

    公开(公告)号:KR101094279B1

    公开(公告)日:2011-12-19

    申请号:KR1020090107175

    申请日:2009-11-06

    CPC classification number: H01L21/67109 C23C16/46

    Abstract: 본 발명은 다수의 기판을 동시에 가공하기 위한 기판 가공 장치에 있어서, 상기 다수의 기판이 가공되는 가공 챔버를 가열하기 위한 가열 수단 및 이를 포함하는 기판 가공 장치에 관한 것으로, 빠른 시간 내에 냉각되어 가공 챔버의 냉각에 소요되는 시간을 감소시킬 수 있는 가열 수단 및 이를 포함하는 기판 가공 장치에 관한 것이다.
    본 발명은 흡기구 및 배기구가 형성된 몸체; 상기 몸체의 내부에 위치하는 하나 또는 다수의 히터; 상기 몸체의 흡기구와 연결되는 냉각부; 상기 몸체의 배기구와 연결되는 배기 펌프; 및 상기 냉각부를 제어하기 위한 제어부를 포함하는 가열 수단에 관한 것이다.
    또한, 본 발명은 다수의 기판이 적층된 보트; 상기 다수의 기판을 가공하기 위한 공간을 제공하는 가공 챔버; 상기 보트를 상기 가공 챔버의 내부로 반입 및 반출시키기 위한 이송부; 및 상기 가공 챔버의 외측에 위치하는 가열 수단을 포함하며, 상기 가열 수단은 흡기구 및 배기구가 형성된 몸체, 상기 몸체의 내부에 위치하는 하나 또는 다수의 히터, 상기 몸체의 흡기구와 연결되는 냉각부, 상기 몸체의 배기구와 연결되는 배기 펌프 및 상기 냉각부를 제어하기 위한 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 가공 장치에 관한 것이다.
    기판 가공 장치, 가열 수단

    실리콘층의 결정화 방법 및 상기 결정화 방법을 이용한 박막 트랜지스터의 형성방법
    18.
    发明公开
    실리콘층의 결정화 방법 및 상기 결정화 방법을 이용한 박막 트랜지스터의 형성방법 失效
    硅层的结晶方法及其使用薄膜晶体管的形成方法

    公开(公告)号:KR1020110132808A

    公开(公告)日:2011-12-09

    申请号:KR1020100052353

    申请日:2010-06-03

    CPC classification number: H01L21/02672 H01L21/02532 H01L27/1277 H01L27/1214

    Abstract: PURPOSE: A method for crystallization of a silicon layer and a method for forming a thin film transistor using the method for crystallization are provided to steadily form catalyst metal of a trace amount by changing the surface of an amorphous silicon layer into hydrophobic. CONSTITUTION: An amorphous silicon layer is formed on substrate(S110). The surface of the amorphous silicon is executed a hydrophobic treatment. A catalyst metal is formed on the amorphous silicon layer(S130). The amorphous silicon layer which forms the catalyst metal is crystallized to a polycrystalline silicon layer by a thermal process(S140). The hydrophobic treatment is processed using solution which contains hydrogen or fluorine. A gate insulating layer is formed on the polycrystalline silicon layer and a gate electrode is formed on the gate insulating layer. A source/drain domain is formed in both sides of the gate electrode. An inter layer insulating layer is formed on the gate insulating layer and the gate electrode. A source/drain electrode touches with the source/drain domain by passing through the inter layer insulating layer.

    Abstract translation: 目的:提供一种硅层的结晶方法和使用该结晶方法形成薄膜晶体管的方法,通过将非晶硅层的表面改为疏水性,稳定地形成微量的催化剂金属。 构成:在基板上形成非晶硅层(S110)。 非晶硅的表面进行疏水处理。 在非晶硅层上形成催化剂金属(S130)。 形成催化剂金属的非晶硅层通过热处理结晶成多晶硅层(S140)。 使用含有氢或氟的溶液处理疏水处理。 在多晶硅层上形成栅极绝缘层,在栅极绝缘层上形成栅电极。 源极/漏极区域形成在栅电极的两侧。 在栅极绝缘层和栅电极上形成层间绝缘层。 源极/漏极通过穿过层间绝缘层与源极/漏极区域接触。

    소스 가스 공급 유닛, 이를 구비하는 증착 장치 및 방법
    19.
    发明授权
    소스 가스 공급 유닛, 이를 구비하는 증착 장치 및 방법 失效
    源气体供给单元,具有该源气体供给单元的沉积装置及其方法

    公开(公告)号:KR101084275B1

    公开(公告)日:2011-11-16

    申请号:KR1020090089698

    申请日:2009-09-22

    CPC classification number: F17D1/02 C23C16/4485 C23C16/52 Y10T137/0318

    Abstract: 본 발명은 소스 가스 공급 유닛, 이를 구비하는 증착 장치 및 방법에 관한 것으로, 일정한 소스 가스를 증착 챔버로 공급함으로써 균일한 막을 증착할 수 있는 소스 가스 공급 유닛, 이를 구비하는 증착 장치 및 방법에 관한 것이다.
    본 발명은 소스가 저장되는 캐니스터, 상기 캐니스터를 가열하기 위한 가열부, 상기 캐니스터의 일측에 형성되는 소스 가스 공급관, 상기 소스 가스 공급관에 설치되어, 상기 소스 가스 공급관을 통과하는 소스 가스의 양을 측정하는 측정 수단 및 상기 가열부와 상기 측정 수단에 연결되는 온도 제어부를 포함하고, 상기 온도 제어부는 상기 측정 수단에 의해 측정된 소스 가스의 양에 따라 상기 가열부를 제어하는 것을 특징으로 하는 소스 가스 공급 유닛을 제공한다.
    캐리어 가스, 소스 가스, 증착 챔버, 측정 수단, 온도 제어부, 가열

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