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公开(公告)号:DE112017001356T5
公开(公告)日:2018-11-29
申请号:DE112017001356
申请日:2017-02-06
Applicant: INTEL CORP
Inventor: HECK JOHN , HUTCHISON DAVID N , SUN JIE , RONG HAISHENG , KIM WOOSUNG
Abstract: Ausführungsformen hierin betreffen photonische integrierte Schaltungen mit einem optischen On-Chip-Isolator. Ein photonischer Senderchip kann einen Laser und einen On-Chip-Isolator aufweisen, der optisch mit dem Laser gekoppelt ist, der einen optischen Wellenleiter mit einem Teilabschnitt aufweist, der mit einem magnetooptischen in Flüssigphasenepitaxie aufgewachsenen Granatfilm gekoppelt ist. In einigen Ausführungsformen kann eine Ummantelung mit dem Granatfilm gekoppelt sein, der On-Chip-Isolator kann in einer Mach-Zehnder-Interferometerkonfiguration angeordnet sein, der Wellenleiter kann einen oder mehrere Polarisationsrotatoren aufweisen, und/oder der Granatfilm kann aus einem Material einer Seltenerd-Granat-Familie ausgebildet sein. Andere Ausführungsformen können beschrieben und/oder beansprucht werden.
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公开(公告)号:GB2527440A
公开(公告)日:2015-12-23
申请号:GB201515760
申请日:2012-03-17
Applicant: INTEL CORP
Inventor: HECK JOHN , BAR HANAN , JONES RICHARD , PARK HYUNDAI
Abstract: A hybrid III-V silicon laser 220 comprising a first semiconductor region 250 comprising layers of semiconductor materials from group III and group V semiconductor to form an active region; and a second semiconductor region 240 having a silicon waveguide directly bonded to the first semiconductor region, which comprising indium phosphide (InP); Wherein a first electrical contact 108 is coupled to the first semiconductor region and a pair of second electrical contacts 107 is bonded to the second semiconductor region, wherein electrical current flows from the first electrical contact to the second electrical contacts through the second semiconductor region. The bonding between the first and second semiconductor layers may be carried out at room temperature in a vacuum. In one embodiment a plurality of transmitters and receivers are included (see Figure 4).
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公开(公告)号:MY137043A
公开(公告)日:2008-12-31
申请号:MYPI20032608
申请日:2003-07-11
Applicant: INTEL CORP
Inventor: WANG LI-PENG , BAR-SADEH EYAL , RAO VALLURI R , HECK JOHN , MA QING , TRAN QUAN , TALALAYEVSKY ALEXANDER , GINSBURG EYAL
Abstract: A FILM BULK ACOUSTIC RESONATOR FILTER (10) MAY BE FORMED WITH A PLURALITY OF INTERCONNECTED SERIES AND SHUNT FILM BULK ACOUSTIC RESONATORS (38) FORMED ON THE SAME MEMBRANE (35). EACH OF THE FILM BULK ACOUSTIC RESONATORS (38) MAY BE FORMED FROM A COMMON LOWER CONDUCTIVE LAYER WHICH IS DEFINED TO FORM THE BOTTOM ELECTRODE (32) OF EACH FILM BULK ACOUSTIC RESONATOR (38). A COMMON TOP CONDUCTIVE LAYER MAY BE DEFINED TO FORM EACH TOP ELECTRODE (36) OF EACH FILM BULK ACOUSTIC RESONATOR (38). A COMMON PIEZOELECTRIC FILM LAYER (34), THAT MAYOR MAY NOT BE PATTERNED, FORMS A CONTINUOUS OR DISCONTINUOUS FILM. FIG 1 & 9.
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公开(公告)号:AU2003212969A8
公开(公告)日:2003-10-13
申请号:AU2003212969
申请日:2003-02-07
Applicant: INTEL CORP
Inventor: WONG DANIEL , BERRY MICHELE , RAO VALLURI , MA QING , HECK JOHN
Abstract: A MEMS device may be formed in a hermetic cavity by sealing a pair of semiconductor structures to one another, enclosing the MEMS device. The two structures may be coupled using surface mount techniques as one example, so that the temperatures utilized may be compatible with many MEMS applications. Electrical interconnection layers in one or the other of these structures may be utilized to allow electrical interconnections from the exterior world to the MEMS components within the cavity.
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公开(公告)号:DE102021115855A1
公开(公告)日:2021-12-23
申请号:DE102021115855
申请日:2021-06-18
Applicant: INTEL CORP
Inventor: SAKIB MEER NAZMUS , LIAO PEICHENG , KUMAR RANJEET , HUANG DUANNI , RONG HAISHENG , FRISH HAREL , HECK JOHN , MA CHAOXUAN , LI HAO , BALAMURUGAN GANESH
Abstract: Hier beschriebene Ausführungsformen können Einrichtungen, Prozesse und Techniken in Bezug auf kohärente optische Empfänger betreffen, einschließlich kohärenter Empfänger mit integrierten Ganzsiliciumwellenleiterfotodetektoren und abstimmbaren Lokaloszillatoren, die in CMOS-Technologie implementiert sind.Ausführungsformen betreffen auch abstimmbare Siliciumhybridlaser mit integrierten Temperatursensoren zum Steuern der Wellenlänge. Ausführungsformen betreffen auch eine Post-Prozess-Phasenkorrektur eines optischen Hybrids und verschachtelter I/Q-Modulatoren. Ausführungsformen betreffen auch Demultiplexfotodetektoren basierend auf mehreren Mikroringen. Bei Ausführungsformen können alle Komponenten auf einem Siliciumsubstrat implementiert sein. Andere Ausführungsformen können beschrieben und/oder beansprucht werden.
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公开(公告)号:DE102019103956A1
公开(公告)日:2019-09-26
申请号:DE102019103956
申请日:2019-02-18
Applicant: INTEL CORP
Inventor: HECK JOHN , FRISH HAREL , WEST PAUL
IPC: H01L31/0232 , G02B3/00 , G02B3/08 , H01L31/10
Abstract: Bei Ausführungsformen kann eine optoelektronische Einrichtung Folgendes beinhalten: ein Substrat mit einer ersten Seite und einer der ersten Seite gegenüberliegenden zweiten Seite; einen Fotodetektor, der auf der ersten Seite des Substrats angeordnet ist, wobei der Fotodetektor zum Umwandeln eines Lichtsignals in ein elektrisches Signal ausgelegt ist; und eine dielektrische Metaoberflächenlinse, die in die zweite Seite des Substrats geätzt ist, wobei die dielektrische Metaoberflächenlinse zum Sammeln von einfallendem Licht und Fokussieren von diesem durch das Substrat auf den Fotodetektor ausgelegt ist.
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公开(公告)号:MY138825A
公开(公告)日:2009-07-31
申请号:MYPI20030639
申请日:2003-02-25
Applicant: INTEL CORP
Inventor: HECK JOHN , BERRY MICHELE , WONG DANIEL , RAO VALLURI
Abstract: A PACKAGED MICROELECTROMECHANICAL SYSTEM (18) MAY BE FORMED IN A HERMETIC CAVITY (22) BY FORMING THE SYSTEM (18) ON A SEMICONDUCTOR STRUCTURE (12) AND COVERING THE SYSTEM WITH A THERMALLY DECOMPOSING FILM (25). THAT FILM (25) MAY THEN BE COVERED BY A SEALING COVER (20). SUBSEQUENTLY, THE THERMALLY DECOMPOSING MATERIAL (25) MAY BE DECOMPOSED, FORMING A CAVITY (22), WHICH CAN THEN BE SEALED TO HERMETICALLY ENCLOSE THE SYSTEM (18).
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公开(公告)号:GB2392329B
公开(公告)日:2005-03-16
申请号:GB0318456
申请日:2003-08-06
Applicant: INTEL CORP
Inventor: WANG LI-PENG , BAR-SADEH EYAL , RAO VALLURI , HECK JOHN , MA QING , TRAN QUAN , TALALYEVSKY ALEXANDER , GINSBURG EYAL
Abstract: A film bulk acoustic resonator filter (10) may be formed with a plurality of interconnected series and shunt film bulk acoustic resonators (38) formed on the same membrane (35). Each of the film bulk acoustic resonators (38) may be formed from a common lower conductive layer which is defined to form the bottom electrode (32) of each film bulk acoustic resonator (38). A common top conductive layer may be defined to form each top electrode (36) of each film bulk acoustic resonator (38). A common piezoelectric film layer (34), that may or may not be patterned, forms a continuous or discontinuous film.
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公开(公告)号:GB2392329A
公开(公告)日:2004-02-25
申请号:GB0318456
申请日:2003-08-06
Applicant: INTEL CORP
Inventor: WANG LI-PENG , BAR-SADEH EYAL , RAO VALLURI , HECK JOHN , MA QING , TRAN QUAN , TALALYEVSKY ALEXANDER , GINSBURG EYAL
Abstract: An FBAR filter 10 may be formed with a plurality of interconnected series and shunt film bulk acoustic resonators 38 formed on the same membrane 35. Each of the film bulk acoustic resonators 38 may be formed from a common lower conductive layer which is defined to form the bottom electrode 32 of each film bulk acoustic resonator 38. A common top conductive layer may be defined to form each top electrode 36 of each film bulk acoustic resonator 38. A common piezoelectric film layer 34 that may or may not be patterned, forms a continuous or discontinuous film. The plurality of FBARs 38 may be formed over a single backside cavity.
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公开(公告)号:DE102022105986A1
公开(公告)日:2022-12-29
申请号:DE102022105986
申请日:2022-03-15
Applicant: INTEL CORP
Inventor: SAKIB MEER NAZMUS , FATHOLOLOUMI SAEED , FRISH HAREL , HECK JOHN , BONONCINI EDDIE , DEFREES REECE A , DOBEK STANLEY J , EFTEKHAR ALIASGHAR , GARAY WALTER , LIU LINGTAO , QIAN WEI
Abstract: Ein Verfahren kann Folgendes beinhalten: Ausbilden einer Basisschicht auf einem Substrat; Ausbilden einer Wellenleiterbaugruppe auf der Basisschicht, wobei die Wellenleiterbaugruppe von einer Mantelschicht umgeben ist; Ausbilden einer Grabenöffnung durch die Mantelschicht und die Basisschicht; Ausbilden einer Unterhöhlung durch Ätzen des Substrats durch die Grabenöffnung, wobei sich die Unterhöhlung unter der Wellenleiterbaugruppe und der Basisschicht erstreckt; und Füllen der Grabenöffnung mit einem Füllstoff, um die Unterhöhlung abzudichten. Weitere Ausführungsformen sind beschrieben und beansprucht.
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