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公开(公告)号:DE102021105773A1
公开(公告)日:2021-09-30
申请号:DE102021105773
申请日:2021-03-10
Applicant: ASML NETHERLANDS BV , ZEISS CARL SMT GMBH
Inventor: SCHMITT JAN , LOOPSTRA ERIK
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen eines diffraktiven optischen Elements (110, 320) mit einem Bereitstellen eines Substrats (104), wobei das Substrat (104) eine Basisschicht (100) und mindestens eine auf der Basisschicht (100) angeordnete Zusatzschicht (102) aufweist, wobei die Zusatzschicht (102) aus einem vorgebbaren Schichtmaterial gebildet ist, sowie einem Erzeugen von diffraktiven Strukturen (108) in mindestens in einer Zusatzschicht (102) des Substrats (108) durch abschnittsweise chemische Veränderung des Schichtmaterials. Die chemische Veränderung erfolgt derart, dass die Brechzahl des chemisch veränderten Schichtmaterials sich von der Brechzahl des chemisch unveränderten Schichtmaterials unterscheidet. Weiterhin betrifft die Erfindung ein diffraktives optisches Element (110, 320).
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公开(公告)号:DE102018130290A1
公开(公告)日:2020-06-04
申请号:DE102018130290
申请日:2018-11-29
Applicant: ASML NETHERLANDS BV , ZEISS CARL SMT GMBH
Inventor: HOL SVEN , LOOPSTRA ERIK , KAMMINGA JELMER , MERRY ROEL , SCHÖNHOFF ULRICH , HAUF MARKUS
Abstract: Die Erfindung betrifft eine Aktuatoreinrichtung (1), umfassend einen Elektromotor (15) und eine Stromgebereinheit (16), wobei der Elektromotor (15) einen Stator (17) und einen relativ zu dem Stator (17) auslenkbaren Läufer (10) aufweist. Der Stator (17) oder der Läufer (10) umfasst wenigstens eine erste Spulenanordnung (18), die ausgebildet und angeordnet ist, um eine Auslenkung des Läufers (10) aufgrund von elektromagnetischer Wechselwirkung zu erzeugen. Es ist vorgesehen, dass die erste Spulenanordnung (18) eine erste Spule (22) und eine zweite Spule (23) aufweist, wobei die erste Spule (22) mittels der Stromgebereinheit (16) mit einem ersten elektrischen Strom (i) und die zweite Spule (23) mittels der Stromgebereinheit (16) mit einem zweiten elektrischen Strom (i) beaufschlagbar ist. Die Stromgebereinheit (16) ist eingerichtet, um den ersten elektrischen Strom (i) und den zweiten elektrischen Strom (i) in Betrag und Richtung derart einzustellen, dass die in den Elektromotor (15) eingebrachte elektrische Leistung (P) über den auslenkbaren Bereich des Läufers (10) konstant ist.
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公开(公告)号:SG11201601454WA
公开(公告)日:2016-03-30
申请号:SG11201601454W
申请日:2014-09-24
Applicant: ASML NETHERLANDS BV
Inventor: BANINE VADIM , BARTRAIJ PETRUS , VAN GORKOM RAMON , AMENT LUCAS , DE JAGER PIETER , DE VRIES GOSSE , DONKER RILPHO , ENGELEN WOUTER , FRIJNS OLAV , GRIMMINCK LEONARDUS , KATALENIC ANDELKO , LOOPSTRA ERIK , NIENHUYS HAN-KWANG , NIKIPELOV ANDREY , RENKENS MICHAEL , JANSSEN FRANCISCUS , KRUIZINGA BORGERT
IPC: G03F7/20 , G01N21/956 , G02B5/18 , G02B27/00 , G02B27/09 , G02B27/10 , G02B27/12 , G02B27/14 , G02B27/42 , G03F1/84 , G21K1/06 , H01S3/09 , H05H7/04
Abstract: A delivery system for use within a lithographic system. The beam delivery system comprises optical elements arranged to receive a radiation beam from a radiation source and to reflect portions of radiation along one or more directions to form a one or more branch radiation beams for provision to one or more tools.
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公开(公告)号:NL2013663A
公开(公告)日:2015-05-07
申请号:NL2013663
申请日:2014-10-22
Applicant: ASML NETHERLANDS BV
Inventor: AKKERMANS JOHANNES , AMENT LUCAS , BANINE VADIM , COENEN TEIS JOHAN , JAGER PIETER , VRIES GOSSE , FRIJNS OLAV , GRIMMINCK LEONARDUS , KATALENIC ANDELKO , LOOPSTRA ERIK , LUITEN OTGER , NIKIPELOV ANDREY
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公开(公告)号:NL2013518A
公开(公告)日:2015-03-30
申请号:NL2013518
申请日:2014-09-24
Applicant: ASML NETHERLANDS BV
Inventor: BANINE VADIM , BARTRAIJ PETRUS , AMENT LUCAS , JAGER PIETER , VRIES GOSSE , DONKER RILPHO , ENGELEN WOUTER , FRIJNS OLAV , GRIMMINCK LEONARDUS , KATALENIC ANDELKO , LOOPSTRA ERIK , NIENHUYS HAN-KWANG , NIKIPELOV ANDREY , RENKENS MICHAEL , GORKOM RAMON , JANSSEN FRANCISCUS , KRUIZINGA BORGERT
Abstract: A delivery system for use within a lithographic system. The beam delivery system comprises optical elements arranged to receive a radiation beam from a radiation source and to reflect portions of radiation along one or more directions to form a one or more branch radiation beams for provision to one or more tools.
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公开(公告)号:NL2013014A
公开(公告)日:2014-12-22
申请号:NL2013014
申请日:2014-06-17
Applicant: ASML NETHERLANDS BV
Inventor: NIKIPELOV ANDREY , FRIJNS OLAV , VRIES GOSSE , LOOPSTRA ERIK , BANINE VADIM , JAGER PIETER , DONKER RILPHO , NIENHUYS HAN-KWANG , KRUIZINGA BORGERT , ENGELEN WOUTER , LUITEN OTGER , AKKERMANS JOHANNES , GRIMMINCK LEONARDUS , LITVINENKO VLADIMIR
IPC: G03F7/20
Abstract: A method of patterning lithographic substrates, the method comprising using a free electron laser to generate EUV radiation and delivering the EUV radiation to a lithographic apparatus which projects the EUV radiation onto lithographic substrates, wherein the method further comprises reducing fluctuations in the power of EUV radiation delivered to the lithographic substrates by using a feedback-based control loop to monitor the free electron laser and adjust operation of the free electron laser accordingly.
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公开(公告)号:NL2012291A
公开(公告)日:2014-08-21
申请号:NL2012291
申请日:2014-02-19
Applicant: ASML NETHERLANDS BV , ASML HOLDING NV
Inventor: CUYPERS KOEN , ANDRADE OLIVEIRA MARCELO , REMIE MARINUS , SINGH CHATTARBIR , BOKHOVEN LAURENTIUS , VEN HENRICUS , FONSECA JUNIOR JOS , BOXTEL FRANK , BURBANK DANIEL , LOOPSTRA ERIK , ONVLEE JOHANNES , SCHUSTER MARK , BALLEGOIJ ROBERTUS , WARD CHRISTOPHER , WESTERLAKEN JAN
IPC: G03F7/20
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公开(公告)号:NL2009117A
公开(公告)日:2013-02-06
申请号:NL2009117
申请日:2012-07-04
Applicant: ASML NETHERLANDS BV
Inventor: LOOPSTRA ERIK , DIJKSMAN JOHAN
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公开(公告)号:SG186072A1
公开(公告)日:2013-01-30
申请号:SG2012086955
申请日:2011-03-17
Applicant: ASML NETHERLANDS BV
Inventor: YAKUNIN ANDREI , BANINE VADIM , LOOPSTRA ERIK , VAN DER SCHOOT HARMEN , STEVENS LUCAS , VAN KAMPEN MAARTEN
Abstract: A lithographic apparatus includes a radiation source configured to produce a radiation beam, and a support configured to support a patterning device. The patterning device is configured to impart the radiation beam with a pattern to form a patterned radiation beam. A chamber is located between the radiation source and patterning device. The chamber contains at least one optical component configured to reflect the radiation beam, and is configured to permit radiation from the radiation source to pass therethrough. A membrane (44) is configured to permit the passage of the radiation beam, and to prevent the passage of contamination particles (54) through the membrane. A particle trapping structure (52) is configured to permit gas to flow along an indirect path from inside the chamber to outside the chamber. The indirect path is configured to substantially prevent the passage of contamination particles (58) from inside the chamber to outside the chamber.
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公开(公告)号:NL2005771A
公开(公告)日:2011-06-30
申请号:NL2005771
申请日:2010-11-29
Applicant: ASML NETHERLANDS BV
Inventor: BOEIJ WILHELMUS , LOOPSTRA ERIK , MICKAN UWE , SCHOOT JAN , VRIES GOSSE
IPC: G03F7/20
Abstract: An illumination system includes a field-facet mirror-device and a pupil mirror configured to condition a beam of radiation incident on the field-facet mirror-device. The field-facet mirror-device includes reflective field facets movable between first and second orientations relative to the incident beam. The field facets in their first orientations are effective to reflect the incident radiation towards respective reflective pupil facets so as to form part of a conditioned beam reflected from the pupil-facet mirror-device. The field facets in their second orientations are effective to reflect the incident radiation onto respective areas of the pupil-facet mirror-device designated as beam dump areas. The areas are arranged to prevent radiation incident on the areas from forming part of the conditioned beam and are arranged between the limits of an annular area on the pupil-facet mirror-device effective to define the inner and outer regions of the conditioned beam reflected from the pupil-facet mirror-device.
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