21.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE102006028692A1

    公开(公告)日:2007-11-22

    申请号:DE102006028692

    申请日:2006-06-22

    Abstract: A device comprising a first component (5) having a first surface (6), a second component (8) having a second surface (9) and a connection layer (7) between the first surface (6) of the first component (5) and the second surface (9) of the second component (8), wherein the connection layer (7) comprises an electrically insulating adhesive and there is an electrically conductive contact between the first surface (6) of the first component (5) and the second surface (9) of the second component (8).

    23.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE102005047149A1

    公开(公告)日:2007-04-12

    申请号:DE102005047149

    申请日:2005-09-30

    Inventor: PLOESL ANDREAS

    Abstract: The substrate has a porous layer containing semiconductor materials, e.g. gallium arsenide and indium gallium arsenide, where pore size in a partial area (21a) of the porous layer is larger than in another partial area (21b) of the porous layer. A crystallographic distant arrangement is held within the porous layer that is overgrown by a semiconductor crystal (23). A light emitting diode structure is arranged in a surface of the substrate. Independent claims are also included for the following: (a) a component, e.g. light emitting diode, manufactured with an epitaxial substrate (b) a method for manufacturing an epitaxial substrate (c) a method for manufacturing a component, e.g. LED.

    Optoelektronisches Halbleiterbauteil und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterbauteils

    公开(公告)号:DE102012102476A1

    公开(公告)日:2013-09-26

    申请号:DE102012102476

    申请日:2012-03-22

    Inventor: PLOESL ANDREAS

    Abstract: In mindestens einer Ausführungsform umfasst das Halbleiterbauteil (1) eine Halbleiterschichtenfolge (2) mit einer aktiven Schicht (20) zur Erzeugung einer elektromagnetischen Strahlung. Das Halbleiterbauteil (1) beinhaltet ein strahlungsdurchlässiges Bauelement (4) und ein Verbindungsmittel (3). Das Verbindungsmittel (3) ist schichtartig geformt und verbindet das Bauelement (4) und die Halbleiterschichtenfolge (2) mechanisch miteinander. Das Verbindungsmittel (3) ist dazu eingerichtet, von mindestens einem Teil der in der aktiven Schicht (20) erzeugten Strahlung durchlaufen zu werden. Ein Brechungsindex des Verbindungsmittels (3) weicht von einem Brechungsindex der Halbleiterschichtenfolge (2) um höchstens 25 % ab. Das Verbindungsmittel (3) weist mindestens zwei Hauptbestandteile auf. Die Hauptbestandteile sind bei einer Temperatur von 300 K Feststoffe. Wenigstens einer der Hauptbestandteile weist eine Schmelztemperatur von höchstens 750 K auf.

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