Verfahren zur Herstellung eines Nitrid-Verbindungshalbleiter-Bauelements

    公开(公告)号:DE112014002779B4

    公开(公告)日:2022-09-22

    申请号:DE112014002779

    申请日:2014-05-28

    Abstract: Verfahren zur Herstellung eines Nitridverbindungshalbleiter-Bauelements, mit den Schritten:- Bereitstellen eines Aufwachssubstrats (1) mit einer Siliziumoberfläche,- Aufwachsen einer Pufferschicht (2), die AlxInyGa1-x-yN mit 0 ≤ x ≤ 1, 0 ≤ y ≤ 1 und x + y ≤ 1 aufweist, auf die Siliziumoberfläche,- Aufwachsen einer Halbleiterschichtenfolge (3) auf die Pufferschicht (2), wobei- die Pufferschicht (2) eine derart variierende Materialzusammensetzung aufweist, dass eine laterale Gitterkonstante der Pufferschicht (2) in einem ersten Bereich (2a) schrittweise oder kontinuierlich zunimmt und in einem zweiten Bereich (2b), der dem ersten Bereich in Wachstumsrichtung nachfolgt, schrittweise oder kontinuierlich abnimmt, und- die Pufferschicht (2) an einer Grenzfläche zur Halbleiterschichtenfolge (3) eine kleinere laterale Gitterkonstante aufweist als eine an die Pufferschicht (2) angrenzende Halbleiterschicht (4) der Halbleiterschichtenfolge (3),- wobei das Nitridverbindungshalbleiter-Bauelement ein optoelektronisches Bauelement ist, und die Halbleiterschichtenfolge (3) eine Leuchtdiodenschichtenfolge ist, die eine aktive Schicht (5) aufweist.

    Waferträger, Reaktor und Verfahren zur Temperaturmessung

    公开(公告)号:DE102013114203A1

    公开(公告)日:2015-06-18

    申请号:DE102013114203

    申请日:2013-12-17

    Abstract: Es wird ein Waferträger (1), der für einen Epitaxieprozess zur Herstellung von Halbleiterbauelementen vorgesehen ist, mit einem Grundkörper (2) und einer auf dem Grundkörper aufgebrachten Beschichtung (3) angegeben, wobei die Beschichtung (3) Bornitrid enthält. Des Weiteren werden ein Reaktor, der stellenweise mit Bornitrid beschichtet ist, sowie ein Verfahren zur Messung von Temperaturen während eines Epitaxieprozesses angegeben, wobei die Temperatur an einer mit Bornitrid beschichteten Messstelle gemessen wird.

    Optoelektronischer Halbleiterchip
    28.
    发明专利

    公开(公告)号:DE102015104700A1

    公开(公告)日:2016-09-29

    申请号:DE102015104700

    申请日:2015-03-27

    Abstract: In einer Ausführungsform umfasst der optoelektronische Halbleiterchip (1) eine aktive Zone mit einer Multi-Quantentopfstruktur (3), die mehrere Quantentopfschichten (31) und Barriereschichten (32) beinhaltet, die entlang einer Wachstumsrichtung (G) abwechselnd aufeinanderfolgen und die sich jeweils durchgehend über die gesamte Multi-Quantentopfstruktur (3) erstrecken. In einem Querschnitt parallel zur Wachstumsrichtung (G) gesehen weist die Multi-Quantentopfstruktur (3) zumindest einen Emissionsbereich (41) und mehrere Transportbereiche (42) auf, die in einer Richtung senkrecht zur Wachstumsrichtung (G) abwechselnd aufeinanderfolgen. Die Quantentopfschichten (31) und/oder die Barriereschichten (32) in den Transportbereichen (42) sind dünner gestaltet und/oder weisen eine andere Materialzusammensetzung auf als in den Emissionsbereichen (41).

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